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        靶后炸點距離測試儀前放裝置的研制

        作者:西安工業學院光電測試技術研究所 時間:2004-06-11 來源:電子設計應用 收藏
        摘 要: 本文介紹了一種靶后距離測試儀前放裝置的設計,通過采集彈丸從發射到爆炸過程所產生的各種,并運用的原理進行分析從而確定的距離。該裝置設計新穎、精度高,配合后置的可進行實時測量和紀錄。
        關鍵詞:
        光電測試技術是利用電子技術對光學信息進行檢測,并進一步傳遞、儲存、控制、計算和顯示等,在許多領域得到了廣泛的應用。本文討論的靶后炸點測試儀就是光電測試技術的具體應用,而作為此測試系統的關鍵部分——前放裝置,實際上就是一個光電傳感器。


        圖1 彈丸靶后飛行情況示意圖


        圖2 排列方法示意圖


        圖3 各區光能量變化圖

        測試儀的工作原理
        本測試系統采用光電測試方法對靶后炸點進行測試,其基本原理是采用光纖編碼技術設計光電探頭,對彈丸在靶后實時飛行而產生的所有光(與鋁板的碰光、彈尾的曳光、引信開始起爆的起爆光以及彈丸被引信完全起爆的爆炸光)進行實時采集處理,得出多路光電信號,通過記錄分析該多路信號,再根據特殊的光纖編碼排列方法,得出具體對應的彈丸飛行平面的位置,從而完成我們對炸點位置的測試。
        整個系統的兩個核心部件——前放裝置和瞬態紀錄儀是完成此測試系統的關鍵。而系統的光電傳感器更是設計的關鍵所在,其優劣直接影響后面的轉化處理電路和整個系統的測試精度。因此,我們重點要解決好前放裝置的設計。

        數學模型的建立
        在彈丸炸點測試方面,高速的同步攝影和面陣的CCD是當前比較流行的測試方法。高速攝影技術是通過實時捕捉彈丸的影像,從而確定炸點的位置。這種技術在精度上雖然有保障,但也存在問題,如彈丸飛行時間過長,需要采集的圖像也變得無窮大,而且彈道也不是標準的直線,從而同步性很難保證。此外,彈丸出膛后,速度特別快,命中目標到完全爆炸只是一瞬間的事情,高速攝影技術也很難滿足測試要求。面陣的CCD也是通過成像的技術實時捕捉彈丸的影像,這就需要很高的響應速度和信號處理電路,當前的CCD攝像器件無法滿足這種要求。但是,在我們的課題中無論精度方面,還是實時性方面都得到了很大的提高,而且相對于同步攝影和面陣CCD技術,既經濟又實用,其數學模型如圖1所示。
        由于彈丸在預定的直線彈道上飛行時,在縱向偏離彈道的位移非常小,所以在這里我們主要考慮彈丸在水平方向的位置。在彈丸穿過靶面后,會在彈丸飛行的平面內爆炸,那么在這個長方形內,我們需要測試出炸點到靶面的水平距離。

        前放裝置的設計
        如圖1所示,彈丸飛過的平面(假設高1米,寬2米)通過光學系統的光學鏡頭清晰的成像于像面,像面用若干根光纖排成矩形,每一根光纖將進入光傳輸到一個光電管,該光纖對應彈丸飛過平面中≤2×2厘米的面積(即該系統的分辨率)。當彈丸在靶后飛行產生的各種光使飛行平面的光通量發生變化時,所對應的光纖、光電管和處理電路就對該光變化量進行光電信號轉化處理。在實際設計中我們對光纖進行了分層、編組,編碼。經過初步計算,要將彈丸飛過的平面(2×1m2)分成2×2的小份,共5000份,因此,也就需要5000根光纖(50層,每層100根)與之對應。
        如圖2所示,每層光纖又將分為A層、B層和C層。在A層里,光纖被分為4等份,從左到右每份的編號為A1,A2,A3,A4;在B層里,光纖被分成20等份,每份編號從左到右為B1,B2,...,B20;在C層里,光纖被分為100等份,從左到右每份編號為C1,C2,C3,...,C100。由于全為等份,A1與B1~B5相對應,A2與B6~B10相對應,...,A4與B16~B20相對應。B1與C1~C5相對應,B2與C6~C10相對應,...,B20與C96~C100相對應。
        A1到A6每份連接一個光電器件,A層共需要六個光電器件;B1,B6,...,B16連接到一個光電器件上,B2,B7,...,B17連接到一個光電器件上,...,B層共需5個光電器件;C1,C6,C11,...,C96連接到一個光電器件上,...,C層共需5個光電器件。
        以上論證只是一層光纖的編碼排列,而覆蓋彈丸飛行的平面則需50層光纖,每層光纖的排列方法和連接方法與上面一樣,這樣光電器件和處理電路都沒有增加,僅僅增加了光纖根數。通過光纖編碼排列方法,我們僅僅需要4+5+5=14路光電轉換電路就可以完成測試任務。如果知道了哪一區的光纖光通量發生了變化,我們就能知道炸點距靶面的水平位置。

        數據的處理與分析
        假設彈丸是通過A1、A2區,在A3區里起爆的,那么我們就可根據瞬態記錄儀記錄的數據曲線來分析,A1區、A2區和A3區各區的光能量的變化反映在瞬態記錄儀上的波形如圖3所示。
        根據此曲線可以分析出各個時間(時刻)的光強度變化,從而分析出引信彈丸的起爆時間。如:0~T1是彈丸與鋁板的碰光、T1~T2是彈丸飛過A1區時間彈尾的曳光、T2~T3是彈丸飛過A2區時間彈尾的曳光、T3~T4是彈丸飛過A3區彈尾的曳光、T4~T5是引信開始起爆的起爆光、T5~T6是彈丸被引信完全起爆的爆炸光。當然,這只是初步的定出彈丸是在A3區起爆的,根據以上的光纖編碼排列方法,與A3區對應的是B11~B15,根據連接此區光電處理電路測得的信號記錄曲線,可進一步得出是在哪一具體位置;再根據此編號對應的C層哪一位置,進一步確定在C層的編號。通過A層、B層和C層的產生的三個信號,我們就可以確定,是像面上C層哪一根的光纖對應的飛行平面上的位置上起爆的,從而就可以測出具體的起爆點位置。當然,從彈丸剛穿過靶后開始計時,我們也可以測出起爆點的時間。

        結語
        本文提出的光纖編碼技術應用于炸點測試是一種新穎的測試方法,既經濟又實用,測試精度也較高,產品試樣已初步通過實驗。■

        參考文獻
        1 錢浚霞,鄭堅立編著.光電檢測技術[M].北京:機械工業出版社,1993
        2 王鐵嶺,安瑩.一種新型立靶精度測試系統[J].西安工業學院學報,1997,17(1)
        3 施浣芳,王鐵嶺.立靶精度測試系統的光纖標定和誤差分析[J].西安工業學院學報,1999,19(2)



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