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        安捷倫最新 PXI 功能測試系統亮相Nepcon

        作者: 時間:2014-04-23 來源:電子產品世界 收藏

          科技公司日前宣布,旗下最新款  功能測試系統、邊界掃描分析儀以及最新在線測試系統將亮相 NEPCON 中國電子展(NEPCON EMT China 2014)。本屆展會將于 4 月 23 日至 25 日在上海世博展覽館舉行,在 1G60 號展位。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/245842.htm

          專家將展示:

          · 新型 Agilent TS-8989A,業內唯一一款經濟高效、完全集成、擁有大電流開關的功能測試系統,適用于汽車電子功能測試。

          · 功能強大的 TS-5400  系列功能測試系統,可以為汽車、航空航天與國防以及工業控制制造商提供現成可用的 PXI 硬件和軟件平臺,并且支持單一或多個被測器件測試。

          · 多功能 x1149 臺式邊界掃描分析儀,榮獲 EDN 雜志“2014 年最佳測試獎”。x1149 提供快速測試周轉速度和廣泛的測試功能,可涵蓋從設計與驗證到新產品引進與批量生產的各個階段。x1149 演示還包括固態硬盤測試和 Intel Silicon View 技術。

          · 低成本 Medalist i1000D ICT,市場上體積最小的在線測試系統,配有電路板自動裝載設備,可自動對智能手機、LED 以及汽車保險絲盒等器件執行制造測試。i1000D 提供數字測試、邊界掃描和串行編程功能。

          · 完全集成的 Medalist i3070 系列 5 在線測試系統,使用短線夾具,憑借出色的測試移植性和可重復性而倍受客戶青睞。該款屢獲殊榮的套件產品支持受限接入測試和 LED 測試,并配有簡單易用的界面。

          · Agilent i1000D 診斷測試儀,一款定制模塊化 ICT 儀器,適用于研發、維護和并行功能測試,能夠加快原型啟動速度并提供精確的維修診斷。

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        關鍵詞: 安捷倫 PXI Nepcon

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