針對手機電磁兼容測試靜電放電抗擾度試驗等問題研究

g)通過試驗驗證、修正解決方案。整改中具體可采用以下措施。

對于機殼縫隙、按鍵、FPCB的問題可用介質隔離的方式來處理;

對于攝像頭、麥克風、聽筒等問題可以通過介質隔離、加強接地等方式來處理;

具有屏蔽殼的芯片可以通過加強屏蔽效果、屏蔽殼加強接地的方式來處理;

對于接口電路、關鍵芯片的引腳，要通過使用保護器件(如TVS管，ESD防護器件)來加以保護;·對于軟件的故障，可以通過增加一些邏輯判斷來正確檢測和處理告警信息的方式來改善。

2、電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗

2.1電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗概述

電快速瞬變脈沖群產生的原理如下：當電感性負載(如繼電器、接觸器等)在斷開時，由于開關觸點間隙的絕緣擊穿或觸點彈跳等原因，在斷開處產生的瞬態騷擾。當電感性負載多次重復開關，則脈沖群又會以相應的時間間隙多次重復出現。這種瞬態騷擾能量較小，一般不會引起設備的損壞，但由于其頻譜分布較寬，所以會對移動電話機的可靠工作產生影響。

該試驗是一種將由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群耦合到移動電話機的電源端口的試驗。試驗脈沖的特點是：瞬變脈沖上升時間短、重復出現、能量低。該試驗的目的就是為了檢驗手機在遭受這類暫態騷擾影響時的性能。一般認為電快速瞬變脈沖群之所以會造成手機的誤動作，是因為脈沖群對線路中半導體結電容充電，當結電容上的能量累積到一定程度，便會引起手機的誤操作。具體表現為在測試過程中移動電話機通信中斷、死機、軟件告警、控制及存儲功能喪失等。

2.2電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗常見問題分析

電快速瞬變脈沖波形通過充電器直接傳導進手機，導致主板電路上有過大的噪聲電壓。當單獨對火線或零線注入時，盡管是采取的對地的共模方式注入，但在火線和零線之間存在差模干擾，這種差模電壓會出現在充電器的直流輸出端。當同時對火線和零線注入時，存在著共模干擾，但對充電器的輸出影響并不大。造成手機在測試過程中出現問題的原因是復雜的，具體表現為以下幾方面。

前期設計時未考慮電快速瞬變脈沖群抑制功能，沒有添加相關的濾波元器件，PCB設計綜合布線時也沒有注意線纜的隔離，主板接地設計也不符合規范，另外關鍵元器件的也沒有采取屏蔽保護措施等;

生產廠在元器件供應商的選擇上沒有選用性能可靠的關鍵器件，導致測試過程中器件老化或者器件失效，從而容易受到電快速瞬變脈沖的干擾;

在整機生產組裝過程中，加工工藝及組裝水平出現的問題可能會導致產品一致性不好，個別送檢手機存在質量問題;

檢測過程中由于其他測試項出現問題導致整改，可能由于整改方案的選擇會影響到電快速瞬變脈沖群測試不合格。2.3電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗相關問題的改進建議

針對電快速脈沖群干擾試驗出現的問題，主要可以采取濾波及吸收的辦法來實現對電快速瞬變脈沖的抑制。

(1)在手機設計初期就應重點考慮抑制電快速瞬變脈沖群干擾設計。在PCB層電源輸入位置要做好濾波，通常采用的是大小電容組合，根據實際情況可以酌情再添加一級磁珠來濾除高頻信號，盡量采用表面封裝; 盡量減小PCB的地線公共阻抗值; PCB布局盡量使干擾源遠離敏感電路; PCB的各類走線要盡量短; 減小環路面積; 在綜合布線時要注意強弱電的布線隔離、信號線與功率線的隔離。

綜合布線是系統很重要的一個設計組成部分，一個糟糕的綜合布線格局很可能斷送一個設計精良的PCB的穩定性; 關鍵敏感芯片需要屏蔽; 軟件上應正確檢測和處理告警信息，及時恢復產品的狀態。

(2)元器件的選擇上應使用質量可靠的芯片，最好做過芯片級的電磁兼容仿真試驗，質量可靠的充電器、數據線及電池的選用可提升對電快速瞬變脈沖信號的抑制能力;

(3)廠家在組裝生產環節中應嚴把質量關，做好生產工藝流程控制，盡量保證產品質量的一致性，減少因個別手機質量問題帶來的測試不合格現象;

(4)EFT測試過程中如出現問題，可采用在充電器增加磁環或者電快速瞬變脈沖群濾波器的方法進行整改，選用磁珠的內徑越小、外徑越大、長度越長越好。采用加TVS管的整改方法作用有限;

(5)根據最新GB/T 17626.4-2008標準要求，重復頻率將增加100 kHz選項，將會比5 kHz更為嚴酷，廠家應及早重視進行相關的電快速瞬變脈沖群測試防護工作。