電容電壓測量技術、技巧與陷阱

好的C-V測量取決于接地跳線的質量。隨著頻率的提高，好的接地跳線變得愈發重要。探頭體必須跳接在一起，因為同軸線纜的屏蔽層實際上是C-V測試系統測量通路的一部分。如果屏蔽層沒有靠近連接在一起，就會形成一個很大的回路，從而在測量通路中直接產生較大的電感，給電容測量帶來很大的誤差。

當有人想要采用與C-V測量系統相同的探針和線纜系統配置進行直流I-V測量時，按這種方式(如圖5所示)跳接探針體的缺點就顯而易見了。對于好的直流I-V測量，探針體必須浮動在保護電位上，這意味著當從C-V轉換為I-V測試時，必須去掉這個跳線。如果探針臺頻繁在I-V和C-V測試之間轉換，那么你很快就會發現去掉和重新放置這個跳線是一個非常費力費時的過程。

圖5：跳接同軸線屏蔽層示意圖。

吉時利研究出了一種新的接線技術(如圖6所示)，能減少在I-V、C-V和超快I-V測試之間轉換所需的重新連線時間。這種技術采用一種特殊的三軸線纜直接連接探頭，但內部屏蔽層保持浮空或者與C-V同軸屏蔽層絕緣。這實際上是將外部屏蔽層跳接在了一起，保持內部屏蔽層浮空為直流I-V的驅動保護。這種三軸接頭實現了一種簡便而直接的與直流I-V三軸輸出端的連接方式。C-V輸出從同軸轉換為三軸，保護端仍然斷開，從而同一條線纜很容易從直流I-V轉換到C-V測試端。這種特制的三軸線纜具有100歐姆的匹配阻抗，因此同樣的線纜可以采用T型連接方式連接在一起，直接與超快I-V測試儀器連接。這種配置使得屏蔽層跳線始終保持連接，能夠快速而簡便地實現直流I-V、C-V和超快I-V測試之間的轉換。