消除測試設備對射頻器件測量影響

　　可以通過在過渡處采用良好質量的邊緣突出的連接器減小反射來提高測量精度，并在測試設備中具有良好的50歐姆傳輸線。港口擴展技術提供了良好的效果，并具有中等水平的精度。盡管并不和使用高質量設備內部校準標準一樣精確，它仍是迄今為止較為容易在設備內部測試器件的方法，并為多種應用提供了足夠的精度。

　　APE技術采用了曲線擬合過程來計算低階損耗和相位響應。同時，該算法容許失配紋波，其不會去除紋波本身。大多數情況下，只需一個高反射標準來精確計算損耗和延誤響應。只用一個高反射標準來要求測量的頻率范圍足夠寬，以便反射測量中的紋波通過至少有一個完整周期。在這種情況下，可以使用最方便的標準，這往往是開路的。采用兩個標準對寬帶測量而言差別不大，這是由于當使用開路或短路時，紋波中出現的標準或經過計算的損耗是一樣的。使用兩個標準來提高窄帶測量的精度，其中并不會出現完整的紋波周期。圖3中所示的更低軌跡的表示了在采用APE之前，測試設備的一部分響應。上面的軌跡表明了在采用APE后的響應。損耗補償可能以0dB誤差為中心(棕色軌跡)，或將紋波峰值保持在0dB以下(藍色軌跡)。

　　圖4表示了平衡到不平衡5.5GHz無線本地網(WLAN)濾波器測試到10GHz的響應。表示了在自動端口擴展工具欄內，測試設備之一的端口延遲和損耗項。該值由安捷倫PNA網絡分析儀自動計算。下面的兩個軌跡表示了沒有端口擴展的DUT測量。沒有端口擴展，測量包括了DUT和測試設備。失真響應是由于沒有相位補償(尤其重要的是對平衡端口)，并沒有對PCB上該傳輸線的損耗進行補償。具有端口擴展，嚴重誤差由于測試設備被去除，并為WLAN濾波器的實際性能提供了相當高的精度。

　　測試設備去嵌入是更為嚴格的建模技術。該過程一開始就建立DUT所使用的測試設備的模型。模型的精度直接影響去嵌入測量的精度。去嵌入被用于消除測試設備、適配器和探頭的不良影響。替代簡單地減去電長度和插入損耗，去嵌入使用經過建模的響應來作為頻率的函數，并采用數學從測量中去除測試設備的影響。不同于端口擴展，去嵌入去除了同軸線到微帶線過渡的失配影響。測試設備電路的S參數存儲在一個.s2p文件格式中。

　　創建測試設備.s2p模型的最簡單方式就是采用測量探頭，其可以與該測試設備中傳輸線的DUT端點實現接口(圖5)。這種情況下，用戶在測試設備一側實現了一個使用同軸標準的未知的通過校準，并使用了測試設備另一側的探頭阻抗標準基板(ISS)。測試設備的傳輸線是未知的路徑。經過校準后，測試設備只被簡單測量，并未移動探頭或同軸線纜。測量過程對測試設備的每個部分反復進行，使用與第一個設備相同的校準。為了用探頭來測量傳輸線端點，接地平面必須放在與測試探頭的節距間有正確間距的測試設備上。

　　替代探測測試設備的方法就是使用一項技術，其實現了兩個單端口校