炭等)的料面都有一定的安息角，因此固態料面的測量基本上是利用波在粗糙表面的漫反射。形成漫反射的條件近似于：顆粒直徑〉1/6波長。則波長λ與頻率f的關系為: c=λf (3)可以算出它的波長為8.6mm , 對顆粒直徑為2mm 以上的物料都可形成良好的漫反射;而當c為光速3×l08m/s,采用X波段頻率為5.8GHz或6GHz 的微波物位計時，由式(3)可得波長約為52mm ，對于粒徑較小的顆粒狀物位，漫反射效果差，回波信號干擾嚴重。為改善測量性能，可提高發射信號的頻率，采用K波段(24GHz或26GHz)，從而得到較好的回波信號。從雷達料位計的測量原理可知，雷達料位計是通過處理雷達波從探頭發射到介質表面，然后返回到探頭的時間來測量料位的。反射信號中混合有許多干擾信號，因此，對真實回波的處理和對各種虛假回波的識別技術就成為雷達料位計能否準確測量的關鍵因素。由于液面波動和隨機噪聲等因素的影響，檢測信號中必然混有大量噪聲 ，為了提高檢測的準確度，必須對檢測信號進行處理，盡可能消除噪聲。 調頻連續波雷達必須在發射的同時進行接收，如果采用同一天線進行發射和接收，必須有效地防止發射信號直接泄漏到接收系統，因此，可采用環行器隔離發射接收信號。為了保證測量精度的要求，還必須采取有效的措施保證發射信號頻率的穩定度和線性度。
五、結束語
近年來，微電子技術的滲入大大促進了新型物位測量技術的發展，新的測量技術促使物位測量儀表產品結構產生了很大變化。電池供電及無線雷達式物位儀表也開始在市場上出現。所有這些技術上取得的進步以及不斷下降的價格正推動著雷達式物位儀表的不斷增長。
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