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        基于儀器集成的幅頻特性測量儀設計方案

        作者: 時間:2013-11-28 來源:網絡 收藏
        函數信號源當計算出各個頻率點后,先根據用戶選擇的串口向函數信號源發送幅度控制字和頻率控制字以產生不同頻率的掃頻信號,發送幅度和頻率控制字的程序見圖4所示。

          基于儀器集成的幅頻特性測量儀設計方案

          為了保證讀取的數值準確,系統選擇了幾個頻率點進行波形校正操作,方法是通過USB接口控制數字示波器進行一次“AUTO SET”操作,當發送頻率在10 Hz~1 kHz,1~100 kHz 或者100 kHz~10 MHz 時分別對數字示波器進行一次波形校正操作,校正程序如圖5所示。

          基于儀器集成的幅頻特性測量儀設計方案

          接著通過USB接口讀取數字示波器通道1和通道2測量所得的有效值(RMS)[10],計算增益并填充至增益數組,單位為dB,見圖6.最后使用express面板上的圖形顯示控件“expressXY圖”函數來實現X-Y圖顯示(見圖7)。

          3 系統測試

          連接計算機、盛普F40型DDS信號源和TDS1000C-SC 系列數字存儲示波器,將函數信號源輸出端連接待測電路輸入端,數字示波器通道Ⅰ連接待測電路的輸入端,通道Ⅱ連接待測電路的輸出端。在用戶界面中選擇 DDS 信號源對應的串口(如COM1)和數字存儲示波器對應的USB接口,輸入所需的開始頻率、結束頻率和幅度,并選擇掃頻方式。設置完成后點擊開始按鈕即可開始測量。圖8為一個中心頻率約為16 kHz的帶通濾波器的實測結果。

          基于儀器集成的幅頻特性測量儀設計方案

          基于儀器集成的幅頻特性測量儀設計方案

          被測帶通濾波器的中心頻率約為16 kHz.實測中掃頻范圍從1~60 kHz,掃描60個頻點大約需時2分30秒。若需要提高曲線的測量精度,可以增加掃頻點。

          4 結語

          本文以LabVIEW8.6為設計平臺,利用實驗室的計算機、帶數字控制接口的盛普F40型數字合成函數信號源和泰克TDS1012C數字存儲示波器,實現電路網絡的測試。該方案中所采用的方法,測試了巴特沃斯低通濾波器、帶通濾波器和調諧放大器等電路的幅頻特性。實驗結果證明了該方案在應用中的有效性和實用性。在此基礎上還可進一步獲得相頻特性。與商用設備相比,本系統雖然響應時間較慢,用戶界面仍有待改進,但其編程與控制簡單,只需利用實驗室的已有設備,是提高高校教學實驗室設備資源利用率的一種可行方案。


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