基于固態(tài)存儲器的ECC算法分析及實現(xiàn)

行校驗碼生成用數(shù)學(xué)表達(dá)式表示為

這里xor表示異或操作。
因為發(fā)生錯誤的數(shù)據(jù)位在該數(shù)據(jù)塊中的字節(jié)的偏移量為

發(fā)生錯誤的數(shù)據(jù)位在所處的字節(jié)中的位偏移量為P4_1，P2_1，P1_1
所以根據(jù)字節(jié)的偏移量和字節(jié)中的位的偏移量即可確定該頁數(shù)據(jù)中哪一位發(fā)生了變化。
2．2 ECC校驗流程
當(dāng)向NAND Flash的頁中寫入數(shù)據(jù)的時候，每2 048 bit生成4 bit的ECC校驗碼，稱之為寫ECC校驗碼，保存到每一頁的空閑數(shù)據(jù)區(qū)中。
當(dāng)從NAND Flash中讀取數(shù)據(jù)的時候，每2 048 bit生成4 bit的ECC校驗碼，稱之為讀ECC校驗碼。校驗的時候，根據(jù)上述ECC生成原理不難推斷：將從頁空閑區(qū)中讀出的寫ECC校驗碼和讀ECC校驗碼按位異或，若結(jié)果為0，則表示不存在錯；若4 bit的異或結(jié)果中存在14 bit為1，表示存在1 bit錯誤，且可糾正；若4個bit的異或結(jié)果中只存在1 bit為1，表示空閑區(qū)中的校驗碼出錯；其他情況均表示出現(xiàn)了無法糾正的錯誤，校驗流程圖，如圖2所示。

3 ECC算法的實現(xiàn)
3．1 C語言實現(xiàn)ECC算法
以一頁數(shù)據(jù)2 048個字節(jié)作為測試數(shù)據(jù)產(chǎn)生ECC校驗碼，數(shù)據(jù)是0x00～0xFF，循環(huán)8次產(chǎn)生2048個數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)序列，如圖3所示。