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        尼得科精密檢測科技將參展CPCA Show 2025

        作者: 時間:2025-03-19 來源:EEPW 收藏

        科技株式會社(以下簡稱“本公司”)將參展2025年3月24日(周一)~3月26日(周三)于上海國家會展中心舉辦的“ 2025(2025上海國際電子電路展)”.

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/202503/468362.htm

        本次展會由中國電子行業(yè)協(xié)會主辦,是全球電子電路市場最專業(yè)的展會之一,展出包括用于各種電子、信息通信、控制設(shè)備的電子電路和裝配技術(shù)等。

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        在本公司的展位上,將展示并現(xiàn)場演示名為“STAR REC-M1”的、用于HDI電路板的電氣檢測裝置,適用于近年來隨著EV等的普及、市場需求日益增長的HDI電路板的檢測。該設(shè)備是一款針對中端市場新開發(fā)的型號,兼具高速高性能和性價比。此外,我們還將介紹新推出的電氣檢測、光學(xué)外觀檢測技術(shù)和高精度檢測夾具。歡迎蒞臨我們的展位。

        〈參展概要〉

        ?   會期:2025年3月24(周一)~26日(周三)

        ?   會場:上海國家會展中心

        ?   展位:7D08

        〈主要展品〉

        ?   HDI/PCB電路板用導(dǎo)通/短路檢測設(shè)備 “STAR REC系列”

        ?   半導(dǎo)體封裝用導(dǎo)通/短路檢測設(shè)備 “GATS系列”

        ?   高密度電路板用光學(xué)2D/3D檢測設(shè)備 “RSH系列”

        ?   高精度檢測夾具

        ?   IGBT/SiC功率模塊檢測設(shè)備 “NATS系列”

        ?   xEV電機(jī)測試臺“TDAS系列”

        ?   xEV建模模擬器 “E-Transport Simulator”



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