應用指南 | eDP測試方案：確保面板顯示接口的可靠性

Embedded Displayport（eDP） 是VESA（視頻電子標準協會）制定的用于Notebook或PAD等移動設備的內嵌顯示接口，目前官方組織發布的最新版為1.5。

eDP 接口 共有1~4對lane用于數據傳輸，內嵌時鐘。在RBR，HBR，HBR2三種不同模式下，單個lane速率分別為:

■ RBR 1.62Gbps；

■ HBR 2.7Gbps；

■ HBR2 5.4Gbps；

■ HBR3 8.1Gbps

下圖為eDP接口的結構圖

eDP接口 測試包括 source/sink端的物理層測試 。Source端根據設備速率，選擇對應的高帶寬示波器進行測試。Sink端的測試主要是根據 不同速率進行接收端的壓力容限測試 。

依據eDP物理層電氣特性規范，Source端物理層測試需要完成如下測試項目：

eDP Source端物理層電氣特性測試項目

不同的速率，有不同的測試項目要求，每一個測試項目要求被測發送相應的測試Pattern。

eDP Source端測試使用到的高帶寬示波器，目前市場有三個廠商，美國泰克、是德和力科。根據測試標準，滿足RBR和HBR速率，需要至少8GHz帶寬示波器。滿足HBR2速率測試，需要選擇至少12.5GHz帶寬示波器，采樣率80GS/s以上。如果需要考慮到HBR3的速率，示波器帶寬需要考慮16GHz。

測試組網連接如下：

使用夾具測試組網連接

使用探頭測試組網連接

測試需要三個部分：

? 滿足DUT速率要求的高帶寬高采樣率實時示波器：

TEK DPO/MSO70000C/DX/SX系列示波器

? eDP Source端口標準測試夾具及高速差分探頭：

? eDP一致性測試軟件：

TEK eDP物理層測試軟件完全依照測試規范，可以完成前文所述的，各個物理層測試項目。

測試方案：

方案一

測試時通過與eDP Source DUT接口匹配的測試夾具，將信號引入到示波器內，示波器上運行的專用eDP物理層軟件會分別對每對lane的電學指標按照協議中制定的指標進行分析，最終得出測試結果是否合乎一致性要求。

TEK eDP物理層測試方案支持使用eDP夾具和差分SMA探頭測試，也可以使用差分探頭直接在eDP panel端進行探測。兩種方法均可實現最多4對lane 的同時測量。

方案二

使用夾具和SMA同軸線纜，將DUT發出的信號直接引入示波器，這樣支持最多2對lane的同時測量。

如果EDP收端支持CTLE或CTLE+DFE均衡，眼圖測試，需要示波器能夠仿真到CTLE或CTLE+DFE均衡之后的眼圖。TEK eDP物理層測試軟件本身支持符合規范要求的CTLE仿真，通過搭配TEK SDLA串行鏈路分析軟件，可以實現DFE的仿真。

SDLA串行鏈路分析軟件

通過本文所介紹的eDP測試方案，我們詳細探討了如何使用合適的儀器設備和測試方法來驗證eDP接口的物理層性能。使用Tektronix的高帶寬示波器和專用測試軟件，能夠確保測試結果的準確性和一致性，從而滿足不同速率下的eDP接口的嚴格要求。無論是在設計階段還是在生產過程中，采用規范的測試方法對產品進行驗證，都是保證產品質量和性能的關鍵步驟。這不僅有助于提高產品的市場競爭力，還能夠有效降低潛在的質量風險。