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        西門子發(fā)布Tessent RTL Pro強化可測試性設計能力

        作者: 時間:2023-10-19 來源:電子產品世界 收藏

        數字化工業(yè)軟件近日推出 Tessent? RTL Pro 創(chuàng)新軟件解決方案,旨在幫助集成電路 (IC) 設計團隊簡化和加速下一代設計的關鍵 (DFT) 任務。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/202310/451807.htm

        隨著 IC 設計規(guī)模不斷增大、復雜性持續(xù)增長,工程師需要在設計早期階段發(fā)現(xiàn)并解決可測試性問題,的 Tessent 軟件可以在設計流程早期階段分析和插入大多數 DFT 邏輯,執(zhí)行快速綜合,運行 ATPG(自動測試向量生成),以發(fā)現(xiàn)和解決異常模塊并采取適當的措施,滿足客戶不斷增長的需求。

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        進一步擴展了 Tessent 產品組合的設計編輯功能,可在設計流程早期自動完成測試點、封裝器單元和 X-bounding 邏輯的分析和插入,有助于客戶縮短設計周期,改進設計的可測試性。與其他解決方案不同, 可處理復雜的 Verilog 和 SystemVerilog 結構,同時保持原始 RTL 設計的風格。

        半導體公司 Renesas 目前已采用 來推進其“左移” (Shift-left) 工作。Renesas Electronics Corporation 共享研發(fā)EDA業(yè)務部數字設計技術部門資深 EDA 主任工程師 Tatsuya Saito表示:“使用 Tessent RTL Pro 進行下一代汽車半導體設計,能夠幫助 Renesas 延續(xù)左移策略,減少傳統(tǒng)設計流程的迭代次數,我們現(xiàn)在不僅可以完成這個既定目標,同時還能保持一流的覆蓋率和向量數量,為后端和驗證團隊提供包含 Tessent IP(包括 RTL 中的 VersaPoint 測試點)的相同完整設計視圖,這對 Renesas 提升競爭力而言至關重要。”

        新解決方案與 Tessent DFT 工具配合使用能夠實現(xiàn)先進功能,Tessent RTL Pro 能夠分析 RTL 復雜性及其對測試點插入的適應性,從而評估是否能夠高效地編輯用戶的 RTL 結構,這是在整個設計過程中添加測試點時的一個關鍵因素,能夠幫助用戶縮短設計周期,加快產品上市速度。

        在綜合之前添加 DFT 邏輯時,Tessent RTL Pro 的“左移”功能有助于增強第三方工具優(yōu)化面積和時序的能力,在門級電路中只需執(zhí)行掃描鏈插入。設計插入在 RTL 開發(fā)階段進行,利用 RTL 輸出,實現(xiàn)與第三方綜合和驗證軟件的無縫集成。此外,RTL Pro 生成的設計文件可與任何下游的綜合或驗證流程配合使用,而無需封閉流程。

        西門子數字化工業(yè)軟件Tessent部門副總裁兼總經理Ankur Gupta表示:“Tessent RTL Pro 繼續(xù)履行西門子的使命,為芯片設計人員和 DFT 工程師提供業(yè)界領先的解決方案,用于其設計流程。由于能夠在設計的 RTL 階段中分析和插入封裝器單元、X-bounding 邏輯和 VersaPoint 測試點,客戶現(xiàn)在可以顯著提高其設計的可測試性,從而進一步推進其左移計劃。”



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