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        宜普電源轉換公司(EPC)發(fā)布第十一階段可靠性測試報告

        —— 失效性測試顯示氮化鎵器件的穩(wěn)定性比硅功率MOSFET器件更具優(yōu)勢
        作者: 時間:2020-04-15 來源:電子產品世界 收藏

        繼 第一至第十階段可靠性測試報告 后,EPC公司的 第十一階段可靠性測試報告 進一步豐富知識庫。此報告對受測進行超過1230億元件-小時應力測試,并且展示氮化鎵的穩(wěn)定性是硅功率所不能實現的。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/202004/412041.htm

        EPC公司 發(fā)布 第十一階段可靠性測試報告 ,與工程師分享受測器件如何實現優(yōu)越的現場可靠性的策略 - 在廣闊測試條件下,采用失效性測試器件(test-to-fail)的反復測試方法,從而知道如何構建更穩(wěn)固的產品以達到應用所需,例如面向全自動駕駛車輛的 激光雷達 、 LTE通信基站 、汽車的車頭燈及 衛(wèi)星 等應用。

        失效性測試器件的方法是比較數據表上所列出的器件限制值和應用中產品的性能,從而知道器件的極限。最重要的是,可以知道器件固有的失效機理,從而找出失效的根本原因。如果知道器件在工作一段時間后的性能、溫度、電氣或機械應力情況,工程師就可以知道該產品在一般工作條件下的實際安全工作壽命。

        這個報告包含七個部分,每個部分描述各種不同的失效機理。

        第一部分:影響eGaN?器件的柵極的固有失效機理

        第二部分:動態(tài)導通電阻的固有機理

        第三部分:安全工作區(qū)域(SOA)

        第四部分:在短路情況下測試器件至失效

        第五部分:采用專有的測試方法,長期置器件于激光雷達脈沖應力條件下,測試及分析器件的可靠性

        第六部分:機械力的應力測試

        第七部分:器件的現場可靠性

        宜普電源轉換公司的首席執(zhí)行官兼共同創(chuàng)辦人Alex Lidow博士說:“氮化鎵(eGaN)器件實現量產已經超過十年。這些器件在實驗室測試及在客戶的量產產品和應用中,都展示出非常高的可靠性。我們的第十一階段可靠性測試報告旨在繼續(xù)實踐我們的承諾 -- 與工程師分享我們在這十年間所累積的數百萬個器件-小時的測試經驗及五代技術的知識。這些可靠性測試讓我們進一步了解氮化鎵器件在廣闊的應力測試條件下的性能。”

        Lidow博士繼續(xù)說,“可靠性測試的結果表明,氮化鎵器件是非常穩(wěn)定及可靠的,其技術改進的步伐,會進一步加快。EPC公司致力于開發(fā)符合非常嚴謹可靠性標準的氮化鎵器件并與功率轉換業(yè)界分享研究所得的結果。”

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        關鍵詞: 器件 優(yōu)勢

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