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        基于STM 32金屬檢測和分離系統的設計與實現

        作者:田大軍,王金枝,高華婷,等 時間:2020-03-03 來源:電子產品世界 收藏

        田大軍,王金枝,高華婷,劉洪波 (濟南正平自動化設備有限公司,山東?濟南?250000)

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/202003/410485.htm

        摘? 要:本系統包括器、控制電路和分離系統三部分。主要原理是有1個發射線圈,2個接收線圈,發 射線圈,在通電后產生1個永久的,2個接收線圈互相連接,在有金屬經過2個金屬線圈時都會產生 信號變化,控制器在處理并判斷該信號之后,給出金屬信號。通過控制輸出給剔除裝置,將帶有金屬雜 質的物料清除出去,對提高食品的安全性及保護精密工業機器具有重要的意義。 

        關鍵詞:

        0  引言 

        隨著人們生活質量的提高,對飲食安全和藥品安全 要求越來越高,相應的安全問題也就得到人們的更加重 視,相應產品的系統設計的重要性也就日益顯 現出來。 

        本系統設計與探討了高精度金屬檢測系統,該系統 可用于塑料、食品、化工和其他行業的原料中進行金 屬檢測和分離。它可以快速檢測并自動分離原材料中的 鐵、銅、鋁和不銹鋼等金屬雜質,還可以安裝在注塑機 和擠出機等設備上。作為金屬檢測設備,金屬檢測和分 離系統廣泛用于塑料、添加劑或粉末狀材料的檢測,然 后再進行下一步處理,以保護后續設備。它也可以用于 細粉產品,例如奶粉和化學添加劑,進行質量測試;以 及食品工業,制藥工業,藥品和膠囊等細粉產品的組 合。這樣可以保證和提高設備的生產效率,相應也更能 提高產品的質量,減少設備維護成本和停機造成的損 失,因此具有廣闊的應用市場和社會價值。

        1  系統原理及結構 

        從結構方面看,該系統可以分成金屬檢測器、控制 器以及分離系統三大部分。同軸線圈包括起振電路、 發射線圈和接收線圈;控制器信主要包括信號采集和處 理、模數轉換電路、電源電路及簡單的數碼管顯示電路 等。分離系統包括及相應的剔除裝置。其原理是 發射線圈通電后產生1個頻率為(30~600) kHz可調的 高頻,兩個接收線圈相互連接,在有金屬 經過接收線圈時,2個接收線圈接收到的電磁場信號不 同,信號的相位和波幅引起信號的變化,利用檢波及放 大電路、DAC數模轉換電路等,在接收處理并判斷信 號后,給出金屬信號。單片機STM32F103的I/O口將得 到的金屬信號通過驅動電路,來控制繼電器輸出給分離 器,將含有金屬雜質的原料分離出去。

        2  系統的功能組成 

        從功能方面,該系統主要包括振蕩電路、同軸線圈、檢波與放大電路、電源電路、模數轉換電路、數碼 管顯示和剔除裝置等。 

        金屬檢測與分離系統框圖如圖1所示。

        微信截圖_20200306154800.jpg

        2.1 金屬檢測線圈 

        金屬檢測線圈結構緊湊,由1個產生交變磁場的發 射線圈和2個檢測磁場感應變化的接收線圈組成。發射 線圈和接收線圈是同軸固定并且沒有偏移。發射線圈和 接收線圈均采用漆包線纏繞,外表面由尼龍材料固定, 穩定性高,整個線圈被檢測線圈包圍。如圖2所示,金 屬檢測線圈、發射線圈和接收線圈的示意圖彼此完全平 行,中間是發射線。高頻交流電會產生磁場,并且線圈 的兩端都是接收線圈,因為2個接收線圈完全相同,間 距相同,并且感測信號完全相同。當金屬雜質穿過線圈 時,位于接收線圈附近的高頻磁場將被磁感應線依次切 斷,相位和幅度的變化會引起信號的變化,并且接收線 圈會發送該變化到差分放大電路進行處理。

        微信截圖_20200306154806.jpg

        理想的狀態是原料產品和檢測到的金屬雜質信號相 位成90°角,這樣金屬雜質被成功檢測到,如圖3所示。 但是大多數情況下檢測到的原料和金屬雜質不是理想的 90°角,大多數是介于0~90°角,這樣基本都能檢測到, 如圖4所示是正常狀態下的相位示意圖,還有另外一種 極端情況就是原料產品和金屬雜質有著相同的相位角, 這種情況下是無法檢測到金屬雜質的,這是本系統設計 所存在的缺點。

        2.2 主控制芯片 

        系統以STM32F103單片機為主控制芯片,該芯片 現在是大眾化市場產品,相應的外圍電路、晶體振蕩電 路、復位電路和下載口程序等技術都非常成熟,硬件設 計和后期調試過程也相對簡單,且該芯片是基于要求高 性能、低成本、低功耗的嵌入式應用設計,完全能滿足系統可靠和穩定運行的能力。 

        2.3 電源電路 

        該系統對電源的要求比較高,而且芯片供電電壓也 不盡相同。本系統主要采用市電220 V給系統供電,由 于市電220 V各個地方會有波動或者不穩定,就會給系 統造成很大的干擾,影響系統的精度及造成誤判,系 統中主要采用了2個AC 220 V-DC 15 V電壓轉換模塊及 相應的濾波器和濾波電路,將電壓轉換為較為穩定的 DC±15 V,然后利用傳統的LM78XX系列穩壓芯片得 到穩定的DC±12 V和DC 5 V電壓,并配有相應的指示 燈。這樣得到的電壓雜波少、穩定,而且受外界電壓干 擾比較少,可以滿足控制系統可靠穩定地工作。 

        2.4 檢波與放大電路 

        檢波放大電路主要是運放LT1122和NPN型三極管 BCP56-16T1G組成,分別將由DAC8043數模轉換的模 擬信號和接收線圈接收到的信號進行濾波放大,將分析 處理后金屬信號最后傳給單片機,由單片機做出判斷和 處理。該處三極管BCP56-16T1G的基級是有DC±12 V 合成的基準電壓0 V,所以容易受到外圍電路電壓的影 響,故對供電電源要求比較高。 

        圖5是部分檢波與放大電路圖。

        微信截圖_20200306154823.jpg

        2.5 數模轉換電路 

        根據系統電路的要求,系統使用DAC8043作為數 模轉換電路芯片。它是8引腳PDIP封裝的高精度12位 CMOS乘法DAC。DAC8043具有串行數據輸入、雙緩沖和出色的模擬性能,是電路板設計和應用的理想選擇。 另外,線性度的改善及增益誤差性能的改善可以不需要 調整設備,這樣就可以減少元器件的數量。另外輸入時 鐘和負載DAC具有獨立的控制電路設計,使用戶可以完 全控制數據負載和模擬輸出。 

        該電路包括1個12位串行輸入、并行輸出移位寄 存器,1個12位DAC寄存器,1個12位CMOS的 DAC 和控制邏輯。串行數據在CLK脈沖的上升沿進入輸入 寄存器。當輸入新的數據字時,DAC寄存器通過LD 輸入引腳加載。

        DAC寄存器中的數據通過數模轉換器 (DAC)轉換為輸出電流。 DAC8043具有快速接口定時功能,可減少定時設計 注意事項和微處理器等待狀態。對于需要異步清零或更 強大的微處理器接口邏輯的應用,DAC8043利用5 V單 電源供電,并采用其低功耗、高性能的解決方案。在系 統中使用其單放大器電路,滿足系統設計要求。具體應 用電路如圖6所示。

        微信截圖_20200306154829.jpg

        2.6 剔除裝置 

        原料產品需要經過傳送帶才能通過檢測線圈內部通 道,在檢測線圈檢測到金屬雜質時,單片機就會通過驅 動電路控制繼電器,從而控制外部機械設備自動剔除含 有金屬雜質的原料產品,這就是剔除裝置的原理。當然 可以根據實際需要設計多種樣式的剔除裝置,以滿足各 種類型的原料產品的需要。 

        2.7 數碼管顯示 

        數碼管顯示主要是單片機驅動的2個8位數碼管,其 主要作用是簡單顯示錯誤代碼以及檢測到的金屬雜質數 量等信息,輔助系統調試和系統正常工作時的一些提示 信息,提高系統的可視性。

        3  結語 

        金屬檢測與分離系統的設計是依據電和磁的原理對 產品中的金屬雜質切割磁感線產生相位和幅度的小脈 沖,進而對此小脈沖進行檢波與放大處理的過程,然后 去除含有金屬雜質的原料,達到純化原料的目的,可應 用于食品和藥品,以及工業塑料等場合。產品的安全性 和質量將提高到一個新的水平,并有良好的市場應用。 

        但是,該系統仍然受到許多技術問題的困擾,例如 周圍工作環境的影響,當原料和金屬雜質的相角或相角 相對均勻時,會影響金屬雜質的檢測。將來,應該努力 解決缺點,以進一步改善系統并提高系統的可靠性。

        參考文獻: 

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        [6] 張玥.基于Cortex-M3的金屬監測系統[D].北京:北京郵電大學, 2013. 

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        本文來源于科技期刊《電子產品世界》2020年第03期第40頁,歡迎您寫論文時引用,并注明出處。



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