芯測科技提供便捷版內存測試方案EZ-BIST

　　中美貿易戰持續延燒，引發后續波及全球的貿易戰爭，當中更是突顯知識產權合法的重要性。有鑒于此，深耕于開發內存測試與修復技術的芯測科技(iSTART-Tek，簡稱iSTART)為了協助客戶對知識產權領域規避嚴重失信的風險，日前推出最新便捷版內存內建式自我測試(MBIST)測試方案「EZ-BIST」，適用于MCU相關的系統芯片開發商。采用芯測科技(iSTART)所提供低成本且高效率的內存測試開發工具，可協助客戶快速的開發產品，避免忽略內存測試的細節而導致產品良率下降，而其適用的應用如觸控屏、指紋辨識、語音識別、馬達控制、家電控制、電子卷標等MCU相關的系統芯片。

　　圖1、EZ-BIST 流程圖

　　芯測科技(iSTART)秉持著幫助開發者以更簡單、更快速、更低成本的途徑實現SOC設計的初衷，提供優化的內存測試電路，從產品設計源頭大幅提升測試良率，提高產業競爭力，先進的功能與友善的接口能大幅縮減測試成本與產品上市的時間，滿足制造商的成本和產品可靠性的需求。

　　圖2、EZ-BIST GUI界面圖