解讀4G LTE帶來的四大技術創新

　　要理解新技術對測試設備帶來什么挑戰，必須對新技術所帶來的技術革新要有一個本質上的理解。載波聚合只是4G技術的其中一個創新。可以從以下4個方面來了解以下4G LTE給我們所帶來的技術創新：

　　首先，LTE使用的信道帶寬更大，目前使用的是20MHz，而今后在引入LTE-Advanced技術后　可能增加到100MHz，而3G系統基 帶帶寬都在5MHz以下。所以測試儀表在設計中就需要能夠支持這樣的寬帶信號處理，而且要能在硬件改動不大的情況下擴展到支持LTE-Advanced 的更大帶寬，即比3G（W-CDMA）系統要求的帶寬大5到20倍的同時要做的可擴展，這將使許多現有3G測試系統被淘汰出局。

　　其次，LTE使用階數更高的調制技術（64QAM），因而要求測試設備接收器具有更好的處理信噪和失真方面的性能，從而能夠精確地測量這些數據率更高，且有很高峰/均值比的信號。

　　第三，LTE-advanced技術將會同時使用連續和非連續信道綁定技術來提供比LTE技術更高的數據率。這種技術能在相同的頻帶內、甚至以跨頻帶 的形式使用多個20MHz的信道。如果在相同的頻帶內，這可使儀器的帶寬需求提高到100MHz之大（即5個20MHz）。如果是跨頻帶的情況（即 4–1700MHz ，2100MHz 和17–700MHz幾個頻帶），那么，儀表配置就需要支持測試儀內的多個同步的信號發生源（VSG）和信號分析儀（VSA）。這是一種更具挑戰性的要 求，因而老一代測試設備無法支持。隨著今后LTE-Advanced技術的引 入將擴展至100MHz帶寬的信道，這樣將淘汰很多不具備足夠帶寬的3G測試儀。Litepoint順應電子產業歷史發展潮流，早在2010年2月就推出了高效的LTE測試儀IQxstream，其內置的100M的解調帶寬不僅滿足 LTE的需求，同時為100M帶寬的LTE-A做好了充足準備。

　　• IQxstream 10-port

　　- 2x 100 MHz VSA / VSG bandwidth

　　- Parallel RX testing

　　- Parallel TX testing

　　• IQxstream 5-port

　　- 100 MHz VSA / VSG bandwidth

　　- Serial RX testing （carrier aggr. on DL only）

　　- Parallel TX testing

　　第四， LTE是特別強調多天線技術的， 從2x2 MIMO， 4x2 MIMO， 到以后的8天線， 多天線的配置是更加的復雜; 對于測試儀表來說， 在基帶處理上要能支持這樣的配置， 特別是在上行和下行的射頻端口的設計上要充分考慮到多天線的要求， 而且要留下可擴展的余地。

　　最后，LTE在全球有40個或甚至更多已定義的頻帶，因此，智能手機如想覆蓋全球所有的LTE頻帶，就需要支持多達10個頻帶（比3G技術要求的5個 多得多）。這意味著需要為智能手機設計更多的天線，并且測試設備應帶有更多的射頻端口，即LTE測試設備需支持更多的射頻端口（每部手機3個）。以中國移動去年發表的TD-LTE終端需求白皮書來看，建議終端5模10頻段-12 頻段，對測試儀器的要求就更加廣泛，通常手機中還要要求測試WiFi、藍牙、GPS、FM、 甚至CMMB等。這使得測試手機所需的時間將翻倍，除非有更精良且先進的測試方案被引入。