電子設計中離不開的基礎測試儀器

測試關乎產品的性能、品質，同時還起著監控產品制程的作用。隨著IC內集成越來越多的性能以及芯片間采用更高速總線來快速傳輸數據，將有更多設計測試概念被整合到產品測試流程里，關鍵技術正在走向集成。而為了滿足層出不窮的新技術，還需確保測試平臺是可擴展和靈活的。這些都對測試測量廠商提出了更高的要求。

電子工程師在平時進行電子設計中離不開測試測量所用的儀器儀表。

萊特波特IQxel 多功能測試儀　

IQxel是Litepoint推出的全球第一款支持802.11ac標準的單機測試儀（OBT），在這款測試儀中同時全面了覆蓋 WLAN （802.11a/b/g/n/ac）與藍牙 （1.0-4.0）多無線標準的物理層測試。可輕松部署以滿足大批量設備生產所需的嚴格的和自動化測試要求。

IQxel采用高精度的設計，支持802.11ac測試所需的所有高信道帶寬（80與160 MHz）組合， 以及嚴格的矢量誤差幅度(EVM)要求。IQxel具備雙DUT RF測試能力，可提供兩路完全校準的RF連接，不需外接可能降低制造精確度并導致可靠度問題的外接RF組件，從而簡化多部設備的制造測試，達到最高的測量精確度。IQxel 160 MHz版本可用于測試兩部80 MHz帶寬設備，將測試站的測試量提高一倍，進一步節省運作成本。

IQxel采用采用彈性架構設計，可輕松擴展以支持真正MIMO測試。采用精簡的2U架高底架，不需外部PC處理數據，使用標準的Gigabit以太網接口，提供獨立網絡圖形用戶接口及與SCPI兼容的控制指令，能提供最迅速、簡便的出廠測試功能。

簡便易用的軟件程序庫，用戶可輕松完成系統轉移，測試全新的802.11ac裝置，之前的802.11 a/g/g/n測試程序也能在IQxel上執行，而無須重新開發軟件。

福祿克 Ti125 紅外熱像儀　

福祿克Ti125熱像儀在易于使用方面，進行了突破性的創新。無論是對焦、成像、現場操作、還是分析報告，都能輕松應對。主要有六大創新功能：

- R OptifleTM 手自一體對焦系統——對焦更輕松

可選擇自動對焦或手動對焦拍攝近距離目標，IR-OptifleTM 能夠快速輕松獲得清晰銳利的圖像。Fluke創新性的手自一體對焦系統，結合了手動與自動對焦模式的優勢，使對焦變得更輕松。僅用一根手指即可在定焦和手動對焦之間輕松切換。

- IR-Fusion: 紅外-可見光點對點融合技術——成像更輕松

行業內獨有的IR-Fusion: 專利技術的紅外熱像儀，將可見光圖像及紅外圖像完全融合成一個視圖。畫中畫模式下的融合功能可精確記錄問題區域，輕松定位問題點。

- 堅固可單手操作——操作更輕松

0.73 kg的重量可讓您輕松握于掌中，即使戴著手套仍能使用拇指操作所有按鈕。輕巧的機身可讓您垂直或水平瞄準目標，長時間使用也不會感到疲勞。

- 多模式視頻錄制——故障排查更輕松

可自動對焦拍攝可見光和紅外視頻， 隨時監控流程，逐幀排除故障，并創建紅外視頻報告。 單次最長錄制時間為5分鐘，方便客戶對動態熱圖進行連續觀測或分析。

- IR PhotoNotesTM 圖片標注系統——報告更輕松

易見熱像儀每個紅外光圖像最多可添加三張可見光照片，無需攜帶紙和筆， 便可準確記錄和標注設備型號、銘牌、潛在問題點。

- 電子羅盤——報告更輕松

可在拍攝的同時，辨別并顯示目標物所在方位，8個基點的羅盤讀數可輕松幫助用戶和他人了解故障區域的方向和位置，尤其是在大范圍的檢測地點或建筑檢測環境的情況下，這一點尤為重要。

另外，Fluke獨有的SmartView 專業紅外分析軟件，具有先進的分析功能，快速報告和可自定義報告， 使用簡單、無許可證限制，終身免費升級。

Mentor GraphicsT3Ster 熱阻測試儀　

瞬態測試臺以及多個配件(恒溫器，功率放大器，熱電偶信號前端放大器，JEDEC標準的測試溫箱，測試板以及特殊設備：測試TIM以及PWB需要用到的設備，等)。

針對LED照明行業，它配置TERALED系統，通過溫度和電流函數，自動測試功率LED的熱特性和光特性。T3Ster的先進技術變革了工程師處理熱測試問題的方法：

1.啟動測試延遲時間1 微秒 （市場上其他產品延遲時間為1毫秒）

2.測試周期短，以“秒、分鐘”為單位 （市場上其他產品以天為單位）

3.采樣點高達65000個，測試可重復性好

4.高信噪比，SNR>4000, FoM=10000 W/℃

5.結溫測試精度：0.01℃

測試結果可用于芯片以及TIMs的熱失效分析。 T3Ster測得的功率封裝元器件的動態熱模型可導入到CFD工具中運行仿真分析，也適用于電路模擬器分析。

安捷倫N6781A 數字源表模塊　

“有兩件事情制約了無線通信行業的發展：帶寬和電池壽命”。這是Palm 公司CEO Jon Rubinstein的名言。我們每個人手中的智能手機，其強大的功能已經超越了幾年前的電腦。但目前的電池技術，卻遠落后于手機性能的提高。因此，無論是對于手機芯片、零部件還是整機的研發，都會將耗電性能作為優先考慮的事情。精確測量和評估手機及芯片的耗電特性，成為眾多研發工程師迫切需要完成的工作。

手機的耗電特性非常特殊，其工作電流范圍涵蓋從微安級的關機漏電流，到安培級的瞬間發射電流，電流脈沖變化在微秒級，而變化頻率也會達到數千赫茲。所以市場上常用的測試設備，諸如示波器、萬用表、高分辨率數字化儀等，由于分辨率或測試速度的限制，無法完成這項頗具挑戰的測試任務。

安捷倫公司的系統產品事業部開創一項全新技術突破了這個難關。在最新推出的N6871A SMU模塊中，采用了“無縫量程切換”的獨特技術，它能在給手機或芯片供電的同時，對電流實行從納安級到安培級連續、無縫隙的高速測量，等效分辨率高達28bit、200KHz/秒采樣率、512K點的存儲深度，保證了對手機及芯片耗電的精確捕獲和分析。這就如同用一個超高分辨率的高速攝像機，跟蹤拍攝飛奔的雄獅，一旦定格在任意一幀圖像，即使將其放大1萬倍，圖像仍然毫發畢現。