基于FPGA實現邏輯芯片的功能故障測試

　　（2）在芯片型號檢索對話框中輸入“74LS08”型號后，點擊“確定”按鈕即可完成芯片檢索的流程。

　　（3）自動測試模式下，系統將調用數據庫中被測芯片的完整測試數據，并且完成整個測試集的循環測試。

　　（4）打開系統的串口后，用戶需要將被測芯片放入測試插槽中，然后鎖死插槽以確定被測芯片的引腳與插槽接觸良好。這時只需要點擊“開始測試”,系統就會自動進行循環測試。在系統插槽中放入74LS08芯片后的測試結果顯示“該芯片功能測試全部通過”,其顯示如圖3所示。

圖3 常規測試結果

　　3.2 故障測試

　　本文以74LS00芯片模擬74LS08芯片的故障片來進行一次故障測試，以驗證測試系統對故障的識別。由74LS00芯片和74LS08芯片兩款芯片的引腳數與引腳分布方式是一樣的。但是在功能上，74LS00芯片為雙輸入四與非門，而74LS08芯片為雙輸入四與門。這就意味著，當兩者的輸入值相同時，芯片功能正確情況下的輸出值應該正好相反。這樣的輸入輸出關系可以用來模擬74LS08芯片的全故障情況。這時，用戶需要把74LS00芯片鎖入測試插槽，點擊“開始測試”后的界面如圖4所示。

圖4 故障測試結果

　　此時，如果被測芯片依然為74LS00芯片，而從上位機的數據庫中重新調入74LS00芯片的測試信息進行測試，其測試結果則顯示為“該芯片功能測試全部通過”.其顯示界面如圖3所示。由此可以驗證，測試系統對芯片功能故障的判斷十分準確，并且測試系統可以準確的識別存在故障的測試矢量位置，以便于用戶進行進一步的分析。

　　4.結論

　　本文用FPGA進行了一個芯片功能測試系統，并對其功能進行了驗證，實驗結果表明該系統測試方法簡單，測試過程迅速，測試結果準確。該系統為芯片功能測試提供了一個很好的解決方案，具有重要的應用價值。