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        DDR測試技術和定時分析工具是否跟上了時代步伐

        作者: 時間:2017-02-27 來源:網絡 收藏

        左圖:以往1只探頭用于差分測量、2只探頭用于單端測量和共模測量或1只探頭焊接和重焊三次、2只探頭用于共模測量。

        右圖:1只TriMode探頭,通過切換進行差分測量、單端測量和共模測量。

        前文提到過,DDR信號不同于其他信號,其數據信號是雙向的,讀信號和寫信號同時出現在信號線上。人們很難判斷當前捕獲到的數據是讀信號還是寫數據,這就給測試效率會很低,也比較容易出錯。有了泰克公司的DDR自動測試軟件選項如DDRA和DPOJET,就可使上述信號采集和分析問題迎刃而解,而且可以加速驗證過程。DDRA的功能特性包括但不限于:

        1.新的自動配置向導,引導用戶簡便地完成設置和測試配置;

        2.可識別和分析整個采集中的所有讀/寫突發;

        3.為讀和寫繪制DQS和DQ眼圖;

        4.使用Pass/Fail極限執行JEDEC一致性測試;

        5.使用片選判定多排測量;

        6.簡便地在一致性測試工具和分析/調試工具之間切換;

        7.使用Pass/Fail信息、統計測量結果和測試設置信息,自動生成合并報告。

        DDRA不是一種獨立式工具,可直接與泰克強大的抖動、眼圖和定時分析工具DPOJE連接,完成更多測量項目:

        1.周期/頻率、占空比、幅度、上升/下降時間測量;

        2.高級抖動、眼圖測量和Pass/Fail測試;

        3.多個顯示和繪圖選項;

        4.報告生成器等。

        對于DDR的數字調試和驗證,泰克的TLA7000系列邏輯分析儀+Nexus分析軟件和NEXVu插卡式DIMM夾具提供了世界領先的DDR2/3存儲器數據采集、分析和協議檢驗及調試解決方案。

        圖4:泰克最新的解決方案加快和改善了DDR2/3的數字驗證和調試步驟。

        泰克提供的NEXVu插卡式DIMM夾具探測解決方案layout符合JEDEC規范,可探測存儲器IC信號,邏輯分析儀連接位置超出了普通DIMM高度,DIMM內部帶有隔離電阻,降低探頭負載效應,可實現最大的信號完整性堪稱業界最佳的IC顆粒數字信號測量方法。

        泰克提供的最新DDR3邏輯分析儀模塊TLA7BBx是唯一可以捕獲所有DDR3速度的邏輯分析儀,提供了足夠高的定時分辨率,支持全面調試。同時提供了足夠靈活的觸發狀態機,只觸發相關事件。其通道數量可以擴充,且足夠高,可以捕獲所有要求的信號。

        搭載的Nexus存儲器支持套件有效提高了數據分析性能,檢驗和調試存儲器系統操作(包括數據有效窗口、讀/寫數據操作、DDR命令和模式寄存器初始化),可迅速簡便地識別協議違規。

        將上述設備、工具和軟件再配上DPO/DSA/MSO70000B高性能示波器,泰克提供了一個全面了解系統特點的平臺驗證系統(如圖5)。這是業界唯一能夠捕獲和分析所有DDR3速度的解決方案,在所有通道上一直提供了高達20ps的定時分辨率,支持選擇性時鐘輸入,只存儲實用數據,并且數字/模擬相關聯,可查看整個系統情況。

        圖5:泰克的DDR平臺驗證系統可全面了解系統特點。


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