LIV測(cè)試系統(tǒng)的組成

圖1示出了LIV測(cè)試系統(tǒng)的組成，包括2602型源表、2510-AT型自動(dòng)溫度控制源表和一臺(tái)配備了GPIB接口板的計(jì)算機(jī)。
2602型源表是一個(gè)雙通道的源表（SMU），可以在提供源電壓或電流的同時(shí)進(jìn)行電壓和電流的測(cè)量。這樣用一個(gè)SMU通道即可以為待測(cè)器件（DUT）提供源電流，并進(jìn)行電壓測(cè)量，而用另一個(gè)通道監(jiān)測(cè)DUT附近探測(cè)器的光電流，為L(zhǎng)IV測(cè)試提供了“單機(jī)箱化”的思路。
2510-AT型自動(dòng)溫度控制源表控制著制冷片TEC，保持待測(cè)模組處于恒定的溫度上。
計(jì)算機(jī)通過(guò)GPIB總線(xiàn)對(duì)各個(gè)源－表進(jìn)行編程，協(xié)調(diào)測(cè)試進(jìn)程，收集并分析得到的測(cè)量結(jié)果。

本文引用地址：http://www.104case.com/article/201702/338573.htm
圖1
激光二極管模組典型LIV測(cè)試系統(tǒng)框圖，2602用以對(duì)模組進(jìn)行特性測(cè)試并監(jiān)測(cè)輸出光強(qiáng)度，2510-AT控制整個(gè)模組的溫度

提升測(cè)試程序速度：吉時(shí)利的TSP
在眾多儀器中，計(jì)算機(jī)控制了測(cè)試的方方面面。在測(cè)試的每一個(gè)步驟中，必須對(duì)測(cè)試設(shè)備進(jìn)行配置，使其執(zhí)行所希望的操作后，將相應(yīng)數(shù)據(jù)返給控制計(jì)算機(jī)（如圖2所示）。然后控制計(jì)算機(jī)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行合格/不合格的判定，執(zhí)行合適的操作來(lái)分揀測(cè)試器件。發(fā)出和執(zhí)行每一條命令都會(huì)消耗寶貴的生產(chǎn)時(shí)間，降低產(chǎn)量。
顯然，測(cè)試程序中大部分的時(shí)間用在與控制計(jì)算機(jī)交換信息上。2600系列設(shè)備可以減少通信總線(xiàn)的信息流量，從而極大地增加整個(gè)復(fù)雜測(cè)試程序的吞吐量。在這些設(shè)備中，大部分的測(cè)試程序都是嵌入在設(shè)備中的。測(cè)試腳本處理器（TSP）是一種全功能的測(cè)試序列引擎，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試序列的控制，可內(nèi)設(shè)合格/不合格準(zhǔn)則、算術(shù)運(yùn)算、計(jì)算以及數(shù)字I/O控制等（參見(jiàn)圖3所示的2602型設(shè)備的測(cè)試序列）。TSP可以將用戶(hù)自定義的測(cè)試序列存入其存儲(chǔ)器中，在收到命令時(shí)調(diào)用執(zhí)行。這樣限制了測(cè)試序列中每一步的建立和配置時(shí)間，通過(guò)減少與設(shè)備和控制計(jì)算機(jī)的通信量增加了吞吐量。

圖2. 計(jì)算機(jī)控制標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備

圖3. 在2602源表中應(yīng)用嵌入式測(cè)試腳本處理器TSP存儲(chǔ)測(cè)試序列，減少通信流量。