橫河發布最新AQ6374光譜分析儀

　　近日, YOKOGAWA Meters & Instruments 正式發布AQ6374光譜分析儀。AQ6374是一款動態范圍大、分辨率高的臺式光譜分析儀，能精準測量激光光譜，波長范圍在350~1750nm之間。

　　光譜分析儀可以分析諸如半導體激光器和光纖激光器等光學器件的波長成分，以便評估它們的特性。 AQ6374是目前市場上唯一一款覆蓋可見光波長和光通信波長的光譜分析儀* 1。

　　開發背景

　　近年來，光學技術已廣泛應用于通信、醫療、家電和材料加工等行業的各種應用之中。上述行業的發展刺激了光學技術應用產品的研究和開發，因此市場對可評估、分析激光特性的高性能光譜分析儀的需求也與日俱增。

　　常規的光譜分析儀可以測量有限范圍波長的光。市售的分析儀分為兩種：測量光通信波長(1260~1675nm * 2)和測量可見光波長(380~780nm * 3) ，后者通常應用于醫療、家用電器、材料加工等行業的應用。 因此，基礎光學技術研究機構、寬頻帶光源制造商以及在各個領域中使用光器件的制造商不得不使用多臺光譜分析儀或使用分光鏡及其他部件構建自己的測量平臺。

　　為了滿足上述需求，橫河電機研究并發布AQ6374光譜分析儀。

　　產品特點

　　1、波長范圍寬(350nm~1750nm)

　　AQ6374是市場上唯一一款能夠評估和分析可見光波長和光通信波長的光譜分析儀。 由于最大采樣分辨率為2 pm，且采樣能力可高達100,000個波長點，AQ6374通過單次掃描即可精確評估和分析更大范圍的波長。AQ6374擁有60 dB的動態范圍，足以測量半導體激光器的邊模特性* 4。 因此該儀器可用于開發分布式半導體器件例如僅發射一個波長的分布反饋激光二極管(DFB-LD)，也可用于對光纖特性分析所必須的寬波長范圍測量。

　　2、實現光譜精準測量

　　AQ6374另外還具備兩項增強功能。一是可以清除單色鏡內的水氣，以免水吸收影響到某個特定波長光的測量。另一方面，所有的單色鏡由于其設計原理都有波長為入射光2~3倍的高階衍射光存在的問題，AQ6374的另一個增強功能就是通過優化光路設計，降低在測量過程中高階衍射光的影響。

　　主要目標用戶：

　　光學研究的大學和研究院所、有源和無源光器件制造商

　　主要應用：

　　-半導體和光纖激光器的發射光譜測量

　　-光纖和濾光器的波長傳輸特性測量

　　橫河電機將通過其美國子公司參加美國著名光學技術展會Photonics West并展示AQ6374光譜分析儀。Photonics West 2017將于1月31日~2月2日期間在加利福尼亞州舊金山的Moscone展覽中心舉行。

　　*1 基于2017年1月橫河電機市場調研數據

　　*2 根據國際電信聯盟電信標準化部門(ITU-T)規定

　　*3 根據國際標準化組織(ISO)ISO20473:2007規定

　　*4 邊模是指與所測量的光峰值相鄰的光譜;鄰近動態范圍是解決和測量邊模特性的能力