EMI測試那點(diǎn)事——利用MDO 地線布局不合理引起的EMI問題

在找到案例三中的問題后，我們立刻想到，既然電源紋波會影響設(shè)備性能，地線上是否也會由于布線不合理而存在該開關(guān)電源紋波造成的EMI問題？為此我們做進(jìn)一步測試。

實(shí)測過程：

將示波器探頭接到該電路板地線，同時將BNC電纜也接到地線，為觀測地線的EMI，我們測試1GHz跨度的頻譜，測試波形如下：

由此圖示波器波形可知，該電路板地線上很不干凈，最大紋波月20mV。在上圖下半部分的頻譜圖中，發(fā)現(xiàn)較嚴(yán)重的EMI問題，幾乎在這個1GHz跨度內(nèi)都存在。從頻譜曲線的形狀可以判斷，該地線上既存在開關(guān)電源造成的EMI同時也存在時鐘泄露造成的EMI問題，因為在頻譜曲線上有類似方波的諧波成分。通過測試諧波分量的頻譜間隔，可以輕松測試該時鐘泄露頻率為25MHz。由與EMI問題遍布整個跨度，為了測試EMI最嚴(yán)重的頻段，我們將MDO頻譜儀跨度降低為500MHz，RBW設(shè)置為5M，得到如下測試結(jié)果：

由測試結(jié)果可知，該地線在105MHz和227.5MHz兩處EMI幅度較高，利用MDO跨域分析功能，在上半部分時域曲線中，橙色條位置為下半部分頻譜分析時間段，此時該時間段位于距觸發(fā)點(diǎn)1.02uS處，即地線上較寬的波形處。我們向左調(diào)整頻譜分析時間段，得到如下測試結(jié)果：

此時，頻譜分析時間段位于距觸發(fā)點(diǎn)730nS處，即地線上較短的波形處，可知該處產(chǎn)生227.5MHz的EMI干擾。再調(diào)整頻譜分析時間段至地線雜波較寬處，即距觸發(fā)點(diǎn)1.1uS處，得到測試結(jié)果如下：

由測試結(jié)果可知，此處地線上的紋波產(chǎn)生105MHz處的EMI。通過以上跨域分析，我們可以找到EMI產(chǎn)生的根本原因。

案例總結(jié)：

本案在測試地線上的紋波時，在用示波器的同時，也應(yīng)用了頻譜儀，可以輕松發(fā)現(xiàn)EMI問題。靈活設(shè)置頻譜儀RBW，利用MDO獨(dú)有的跨域分析功能，可輕松查找某個頻段的EMI產(chǎn)生的根源。