EMI測(cè)試那點(diǎn)事

電磁兼容(EMC)包括電磁干擾(EMI)和電磁抗擾度(EMS)兩部分。簡(jiǎn)而言之，EMI是電子設(shè)備對(duì)外部電磁環(huán)境的干擾，EMS是電子設(shè)備抵抗外部電磁環(huán)境干擾的能力。無(wú)論是EMI還是EMS，都包括輻射和傳導(dǎo)兩部分。EMC認(rèn)證是任何電子設(shè)備必須遵從的，EMI是EMC中的重要部分。

EMI測(cè)試包括

1. EMC 認(rèn)證機(jī)構(gòu)在EMC實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行認(rèn)證測(cè)試；

2. 企業(yè)質(zhì)檢部門利用EMI接收機(jī)或高指標(biāo)頻譜儀進(jìn)行EMI預(yù)認(rèn)證測(cè)試；

3. 產(chǎn)品研發(fā)、調(diào)測(cè)部門利用頻譜儀進(jìn)行EMI診斷；

4. 產(chǎn)品研發(fā)調(diào)測(cè)部門利用示波器測(cè)試電源紋波、時(shí)鐘抖動(dòng)等特性，因?yàn)樗鼈兪钱a(chǎn)生EMI的因素之一。

EMI診斷

在電子設(shè)備設(shè)計(jì)、調(diào)試階段，隨時(shí)進(jìn)行EMI診斷是保證電子設(shè)備通過(guò)EMC認(rèn)證行之有效且費(fèi)用最低的手段。如果最終產(chǎn)品EMC認(rèn)證不合格，設(shè)計(jì)者需要重新進(jìn)行EMI診斷，找出EMI問(wèn)題的根源，但此時(shí)可用的整改手段已經(jīng)不多，進(jìn)行重新設(shè)計(jì)，費(fèi)用將倍增。由此可見(jiàn)EMI診斷是日常工作中經(jīng)常進(jìn)行的，而EMI預(yù)認(rèn)證以及認(rèn)證測(cè)試只有在電子產(chǎn)品定型階段才進(jìn)行。有關(guān)EMI診斷預(yù)EMI預(yù)認(rèn)證或認(rèn)證的區(qū)別見(jiàn)下表。

峰值檢波與準(zhǔn)峰值檢波：

EMI 認(rèn)證機(jī)構(gòu)通常按照EMI標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)峰值檢波進(jìn)行測(cè)試，而EMI診斷中往往用峰值檢波，兩者不匹配，EMI診斷是否還有意義？由于EMI診斷的目的是為了找出EMI的根源，并不需要絕對(duì)精確的測(cè)試，而是需要相對(duì)的重復(fù)性好的測(cè)試。準(zhǔn)峰值檢波用來(lái)檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)加權(quán)后的峰值(準(zhǔn)峰值)，它根據(jù)時(shí)長(zhǎng)和重復(fù)率對(duì)信號(hào)加權(quán)。準(zhǔn)峰值檢波的平均過(guò)程需耗費(fèi)時(shí)間，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，不利于日常診斷。由于準(zhǔn)峰值檢波測(cè)試幅度結(jié)果永遠(yuǎn)小于或等于峰值檢波的測(cè)試結(jié)果，因此在進(jìn)行EMI診斷時(shí)，用峰值檢波可以快速發(fā)現(xiàn)EMI問(wèn)題。

EMI測(cè)試中工程師的“痛點(diǎn)”：

1. 從電路板設(shè)計(jì)開(kāi)始就應(yīng)該考慮EMI問(wèn)題，但受資金限制，EMI診斷設(shè)備往往不能配備到位。

2. 電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型后去進(jìn)行EMC認(rèn)證測(cè)試，認(rèn)證機(jī)構(gòu)給出不合格報(bào)告，僅指出輻射還是傳導(dǎo)EMI不合格，雖然給出干擾頻點(diǎn)，但并不指出電子設(shè)備中EMI不合格的具體位置或原因，需自行進(jìn)行EMI診斷，耗費(fèi)時(shí)間與資金。

3. 某些設(shè)備受環(huán)境制約無(wú)法進(jìn)行屏蔽，需找出EMI根源從設(shè)計(jì)上解決。頻譜儀是發(fā)現(xiàn)EMI問(wèn)題的基本測(cè)試儀器，但某些情況下難以追蹤EMI的根源。

4. 某些EMI問(wèn)題可以通過(guò)屏蔽方式解決，雖然可以通過(guò)EMC認(rèn)證，但EMI影響該設(shè)備自身性能，必須從根源上解決，或找出問(wèn)題所在加以回避。在此種情況下，頻譜儀存在與3同樣的問(wèn)題。

5. 隨著數(shù)據(jù)速率的加快，周期性突發(fā)的EMI問(wèn)題日益增多，必須通過(guò)對(duì)EMI周期的分析找出問(wèn)題的真正根源，這需要調(diào)制域分析。

6. 傳導(dǎo)類EMI可以用示波器追蹤，同時(shí)需要用頻譜儀測(cè)試，需要兩種儀器結(jié)合運(yùn)用。

泰克基于獨(dú)特的混合域示波器的EMI測(cè)試方案：

方案：MDO4014-3 +近場(chǎng)天線+ P6150 + N轉(zhuǎn)SMA

特點(diǎn)：

a) 五合一，完備的示波器功能既可以滿足日常電路調(diào)測(cè)需求，還可以追蹤EMI問(wèn)題的根源；頻譜儀功能可以隨時(shí)診斷EMI問(wèn)題。

b) 具有特色的跨域分析功能，便于分析EMI的真正根源

c) 頻譜高靈敏度、分析帶寬寬，適用于EMI診斷測(cè)試

d) 可測(cè)試射頻幅度隨時(shí)間的變化，便于分析周期性EMI問(wèn)題產(chǎn)生的根源

e) P6150 探頭(選配)可直接將電路板電源或地線連接到MDO頻譜儀射頻輸入端，測(cè)試電源紋波或地線不合理引起的EMI問(wèn)題