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        常用中英文測試測量術語大全

        作者: 時間:2017-01-12 來源:網絡 收藏
        Absolute Accuracy(絕對準確度):
        儀器的讀數和對于公認的標準機構認可的標準具有絕對溯源性的一級標準的讀數之間接近程度的度量。
        Auto-Ranging(自動量程):
        儀器自動地在各個量程之間切換,以確定給出最高分辨率的量程的能力。各個量程通常是按十進值步進的。
        Auto-Ranging Time(自動量程時間):
        對于具有自動量程能力的儀器來說,自動量程時間是從向儀器加入步進輸入信號到儀器顯示出結果之間的時間間隔,其中包括確定并改變到正確量程的時間。
        Bandwidth(帶寬):
        在一定的限度內能夠通過或者放大的頻率范圍。帶寬通常按-3dB(半功率)點來規定。
        Capacitance(電容):
        在電容器或者由導體和介電材料組成的系統中,當導體之間存在電位差時,能夠儲存電氣上分離的電荷的性質。電容與電荷及電壓的關系為:C=Q/V,其中C為以法拉為單位的電容, Q為以庫侖為單位的電荷,V為以伏特為單位的電壓。
        Carbon Nanotube(碳納米管):
        由單層碳原子形成的、具有新的電學和張力性質的管狀納米器件。這種纖維可能表現出象銅那樣高的導電性,,象金剛石那樣的導熱性,其強度比鋼高100倍,而 重量卻只有鋼的六分之一,能夠承受很高的應變而不會損壞。這種材料可以是超導體、絕緣體、半導體或者導體(金屬)。非碳的納米管通常稱為納米線,通常由氮 化硼或者硅生成。
        Channel(switching)(通道與開關):
        開關卡上若干個信號通道之一。對于掃描器或多路選通卡來說,在測量電路中通道用作開關輸入,在源電路中通道用作開關輸出。在開關卡上,每個通道與其它的通道獨立。在矩陣卡上,通道則由行列交叉點上的繼電器的動作而形成。
        Contamination(沾污):
        通常用來說明不希望的物質對半導體或絕緣體的物理、化學、或電學性質的不良的影響。
        D/A(Digital-To-Analog)Converter(數模變換器):
        用來把數字信息變換成模擬信號的電路。在很多的儀器中都使用數模變換器來提供隔離的模擬輸出。
        Digital Multimeter(DMM)(數字多用表):
        將模擬信號變換成數字信息并進行顯示,測量電壓、電流、電阻、或其它電參數的電子儀器。
        Drift(漂移):
        輸入信號或者工作條件不變時,讀數的逐漸變化。
        Dry Circuit Testing(干電路測試):
        為了不影響被測器件的氧化層或者使其發生其它性能下降,保持器件兩端的電壓為一定電平(例如 < 20mV)的測量過程。
        Electrochemical Effect(電化學效應):
        由沾污和濕度引起的原電池效應而產生電流的現象。
        Electrometer(靜電計):
        專門精制的直流多用表。與數字多用表相比,靜電計的特點是更高的輸入阻抗和更高的電流靈敏度。它還可能具有一般數字多用表所沒有的功能(例如,測量電荷、輸出電壓等)。
        EMF(電動勢):
        電動勢或者熱電勢。EMF通常用于由電磁、電化學或者熱電效應產生的電壓差的情況。
        Electrostatic Coupling(靜電耦合):
        由導體附近變化或運動的電壓源產生電流的現象。
        Error(誤差):
        測量結果與其真值的偏差(差值或者比率)。真值由其本質決定是不可能確定的。參見Random Error和Systematic Error。
        Fall Time(下降時間):
        信號從其峰-峰值的一個大的百分比(通常為90%)變到其峰-峰值的一個小的百分比(通常為10%)所需要的時間。參見Rise Time。
        Faraday Cup(法拉第杯):
        法拉第杯(有時又稱為法拉第籠或法拉第桶)是用金屬板或者金屬網制成的封閉設備。它由兩個電極組成,一個在另一個的內部,由絕緣體分開。內電極連到靜電計, 外電極連到地。當帶電物體放到內電極里面的時候,所有的電荷就將流到測量儀器。由于閉合、中空的導體中的電場為零,所以,法拉第杯就把放在其內部的物體屏 蔽起來,不受大氣的或者任何寄生的電場的影響。這樣就能準確地測量物體上的電荷。
        Feedback Picoammeter(反饋式皮安計):

        使用運算放大器反饋結構把輸入電流變換成電壓進行測量的靈敏的安培計。



        Floating(浮地):

        在大地和感興趣的儀器或電路之間存在共模電壓的電路狀態。(電路低端不連到地電位)

        Hall Effect(霍爾效應):

        當導體放在磁場中時,測量跨越該導體的橫向電壓。通過這種測量,可以確定硅中的載流子的類型、濃度和移動性。

        High Impedance Terminal(高阻抗端子):

        源阻抗乘以期望的寄生電流(例如:1礎)超過需要的電壓測量靈敏度的端子。

        Input Bias Current(輸入偏置電流):

        由于儀器內部的電流和偏置電壓而在儀器輸入端流動的電流。

        Input Impedance(輸入阻抗):

        在輸入端測量出的并聯的電阻和電容(或者電感),不包括輸入偏置或者偏置電流的影響。

        Input Offset Current(輸入偏置電流):

        為了使輸出指示值為零,而在差動儀器的輸入測量端加入的兩個電流之差(輸入電壓和偏置電壓均為零)。有時非正式地用來代表輸入偏置電流。

        Input Offset Voltage(輸入偏置電壓):

        在經過電阻通路加入偏置電流的情況下,為了使輸出指示值為零而在輸入測量端之間必須直接加入的電壓。

        Input Resistance(輸入電阻):

        輸入阻抗的電阻分量。

        Nano-(納): 前綴,其意義為十億分之一。

        Nanoelectronics(納米電子學):

        納米尺度上的電子學。包括分子電子學和類似于當今半導體器件的納米尺寸器件。

        Nanotechnology(納米技術):

        制作具有原子或分子尺寸精密度的器件。一般認為最小尺寸小于100納米的器件為納米技術產品。納米(十億分之一米,即10-9米)是通常最適合描述單個分子的尺寸的單位。

        Nanovoltmeter(納伏表):

        最適合提供納伏靈敏度的電壓表(一般都采用低熱電動勢的連接器、偏置補償等)。

        Noise(噪聲): 疊加在有用信號上的任何不希望有的信號。

        Normal-Mode Rejection Ratio(NMRR)(串模抑制比):

        儀器抑制跨越其輸入端的干擾的能力。通常用一定頻率下的分貝數來表示,例如交流電源頻率下的分貝數。

        Normal-Mode Voltage(串模電壓):

        在儀器高、低輸入端之間所加的電壓。
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