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        影響超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度的六個(gè)原因

        作者: 時(shí)間:2017-01-04 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
        影響超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度的六個(gè)原因

          (1) 覆蓋層厚度大于25μm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;

          (2) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);

          (3) 任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響;

          (4) 渦流測(cè)厚儀對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的;

          (5) 試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;

          (6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度,粗糙度增大,影響增大。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/201701/335874.htm


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