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        渦流涂鍍層測厚儀的理論

        作者: 時間:2017-01-04 來源:網絡 收藏
        1. 基本原理
        渦流涂鍍層測厚儀的基本工作原理是,當測頭與被測式樣接觸時,測頭裝置所產生的高頻電磁場,
        使置于測頭下的金屬導體產生渦流,其振幅和相位是導體與測頭之間非導電覆蓋層厚度的函數.
        即該渦流產生的交變電磁場會改變測頭參數,而測頭參數變量的大小,并將這一電信號轉換處
        理,即可得到被測涂鍍層的厚度.
        2. 影響測量精度的原因
        (1) 覆蓋層厚度大于25祄時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
        (2) 基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關;
        (3) 任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體
        金屬厚度的影響;
        (4) 渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應,即對靠近式樣邊緣或內轉角處的測量是不可靠的.
        (5) 試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
        (6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大;

        (7) 渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感.因此測量前應清除測頭和覆蓋層表面的污物;測量時應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸.

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/201701/335841.htm


        關鍵詞: 渦流涂鍍層測厚

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