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        手機(jī)靜電(ESD)測(cè)試及其整改方案

        作者: 時(shí)間:2016-12-26 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
        靜電,是大家都非常熟悉的一種自然現(xiàn)象,在我國(guó)的北方,人們?cè)诿撏馓谆蛎碌臅r(shí)候,經(jīng)常會(huì)聽(tīng)到一些噼里啪啦的聲音,有時(shí)帶著火花,其實(shí),這就是人體身上所攜帶的靜電。靜電會(huì)給人們的生活帶來(lái)種種不便,有時(shí)甚至?xí)?duì)人們的生命財(cái)產(chǎn)安全造成巨大的危害。因?yàn)? 靜電通常產(chǎn)生的都是接近上萬(wàn)伏的高壓,甚至幾十萬(wàn)伏。試想一下,如果在航空航天的微電子行業(yè)出現(xiàn)這種靜電,它對(duì)其中某一個(gè)電路芯片損壞所造成的后果,那將是不堪設(shè)想的。

        靜電所帶來(lái)的危害性已引起了各界廣泛的關(guān)注,為了保護(hù)生命及國(guó)家財(cái)產(chǎn)的安全,國(guó)家出臺(tái)了相應(yīng)的法規(guī)條例,規(guī)定由相應(yīng)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)去執(zhí)行檢測(cè)任務(wù)。既然消除靜電的發(fā)生是幾乎不可能的事情,那么人們可以通過(guò)在實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)物體抗靜電的能力,以此來(lái)判斷靜電抗擾度,在這里,我們將為大家重點(diǎn)介紹在手機(jī)進(jìn)網(wǎng)測(cè)試中,實(shí)驗(yàn)室靜電抗擾度ESD測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/201612/333978.htm

        靜電抗擾ESD是手機(jī)進(jìn)入各國(guó)市場(chǎng)的一個(gè)必測(cè)項(xiàng)目,也是廠家最為擔(dān)心的問(wèn)題之一。下面我們先來(lái)了解一下靜電靠擾測(cè)試(ESD)是如何進(jìn)行測(cè)試的:

        (一)測(cè)試方法

        1.嚴(yán)酷度等級(jí):

        接觸放電:+2KV -2KV,+4KV-4KV
        空氣放電: +2KV-2KV,+4KV-4KV,+8KV-8KV

        2.對(duì)被測(cè)設(shè)備的監(jiān)視:

        專(zhuān)用模式:被測(cè)移動(dòng)電話與無(wú)線綜合測(cè)試儀建立并保持通訊連接,在加擾的過(guò)程中,觀察被測(cè)移動(dòng)電話機(jī)是否維持通信連接。整個(gè)加擾過(guò)程結(jié)束后,觀測(cè)被測(cè)移動(dòng)電話機(jī)是否仍能保持通信連接,是否能正常工作,有無(wú)用戶可察覺(jué)的通信質(zhì)量的降低,有無(wú)用戶控制功能的喪失或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的丟失。

        空閑模式:觀察發(fā)信機(jī)是否誤操作。實(shí)驗(yàn)結(jié)束后,觀測(cè)被測(cè)移動(dòng)電話機(jī)是否仍能保持通信連接,是否能正常工作,有無(wú)用戶可察覺(jué)的通信質(zhì)量的降低,有無(wú)用戶控制功能的喪失或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的丟失。

        3.測(cè)試條件與結(jié)果:

        專(zhuān)用模式:被測(cè)設(shè)備的工作狀態(tài):被測(cè)移動(dòng)電話機(jī)與無(wú)線綜合測(cè)試儀通過(guò)空間鏈路連接。被測(cè)移動(dòng)電話機(jī)與無(wú)限綜合測(cè)試儀建立并保持通訊連接,GSM900MHZ時(shí),ARFCN為62,BCCH為31;DCS1800MHZ時(shí),ARFCN話機(jī)為700,BCCH為735。無(wú)線綜合測(cè)試儀命令被測(cè)移動(dòng)電話機(jī)工作在最大輸出功率電平。被測(cè)移動(dòng)電話機(jī)分別工作在與充電器相連進(jìn)行充電的狀態(tài)和*電池供電的狀態(tài)。

        實(shí)驗(yàn)結(jié)果:
        試驗(yàn)點(diǎn)實(shí)驗(yàn)條件

        試驗(yàn)結(jié)果

        結(jié)論

        移動(dòng)電話機(jī)樣品1 +充電器樣品1移動(dòng)電話機(jī)樣品2 +充電器樣品2移動(dòng)電話機(jī)樣品3 +充電器樣品3
        裸露的金屬板、水平偶合板、垂直偶合板接觸放電:每點(diǎn)測(cè)試次數(shù)10次 ,電平:+2KV-2KV,+4KV-4KV未檢測(cè)到不通過(guò)現(xiàn)象未檢測(cè)到不通過(guò)現(xiàn)象未檢測(cè)到不通過(guò)現(xiàn)象合格
        機(jī)殼、接縫、接鍵、LED顯示屏空氣放電:每點(diǎn)測(cè)試次數(shù)10次 ,電平:+2KV-2KV,+4KV-4KV+8KV-8KV未檢測(cè)到不通過(guò)現(xiàn)象未檢測(cè)到不通過(guò)現(xiàn)象未檢測(cè)到不通過(guò)現(xiàn)象
        合格
         

        空閑模式: 被測(cè)設(shè)備的工作狀態(tài):被測(cè)移動(dòng)電話機(jī)與無(wú)線綜合測(cè)試儀通過(guò)空間鏈路連接,BCCH信道激活,被測(cè)移動(dòng)電話機(jī)與無(wú)線綜合測(cè)試儀保持同步,處于待機(jī)狀態(tài);被測(cè)移動(dòng)電話機(jī)分別工作在與充電器相連進(jìn)行充電的狀態(tài)和*電池供電的狀態(tài)。

        實(shí)驗(yàn)結(jié)果:
        試驗(yàn)點(diǎn)實(shí)驗(yàn)條件

        試驗(yàn)結(jié)果

        結(jié)論

        移動(dòng)電話機(jī)樣品1 +充電器樣品1移動(dòng)電話機(jī)樣品2 +充電器樣品2移動(dòng)電話機(jī)樣品3 +充電器樣品3
        裸露的金屬板、水平偶合板、垂直偶合板接觸放電:每點(diǎn)測(cè)試次數(shù)10次 ,電平:+2KV-2KV,+4KV-4KV未檢測(cè)到不通過(guò)現(xiàn)象未檢測(cè)到不通過(guò)現(xiàn)象未檢測(cè)到不通過(guò)現(xiàn)象合格
        機(jī)殼、接縫、接鍵、LED顯示屏空氣放電:每點(diǎn)測(cè)試次數(shù)10次 ,電平:+2KV-2KV,+4KV-4KV+8KV-8KV未檢測(cè)到不通過(guò)現(xiàn)象未檢測(cè)到不通過(guò)現(xiàn)象未檢測(cè)到不通過(guò)現(xiàn)象
        合格

        (二)應(yīng)對(duì)整改措施

        目前在手機(jī)的靜電靠擾測(cè)試(ESD)中經(jīng)常出現(xiàn)問(wèn)題的地方有如下九處:

        1:Receiver
        2:麥克風(fēng)MIC
        3:鍵盤(pán)
        4:喇叭Speaker
        5:金屬飾件
        6:電池后蓋
        7:側(cè)鍵及USB口
        8:顯示屏
        9:中間縫隙,滑蓋縫隙等

        在對(duì)手機(jī)ESD出現(xiàn)問(wèn)題的整改過(guò)程中,大致可采用以下兩種辦法:

        1.導(dǎo):就是用導(dǎo)電膠帶導(dǎo)電泡棉或者銅箔,將靜電引入GND。

        2.堵:就是用類(lèi)似絕緣膠帶,堵住放電的路徑,讓靜電放不出來(lái)。

        下面用兩個(gè)實(shí)際例子來(lái)說(shuō)明以上這兩種方法的應(yīng)用。

        實(shí)例一:LCD屏幕。采用導(dǎo)的方法。

        屏幕是最容易出問(wèn)題的地方之一。屏幕上可以使用導(dǎo)的方法,把打在屏幕上的靜電及時(shí)的疏導(dǎo)到主板地上。在處理的時(shí)候,有些地方要注意貼上絕緣膠帶防止短路(如圖1)。然后用銅箔包住屏的三個(gè)邊,下壓的時(shí)候正好接到主板地上(如圖2)。正面屏邊上不能露出太多的銅箔,不然裝機(jī)后銅箔會(huì)露在外面(如圖3)。

        實(shí)例二:Keyboard鍵盤(pán)。用堵的方法。

        鍵盤(pán)也是最容易出現(xiàn)問(wèn)題的地方之一。特別是金屬按鍵的鍵盤(pán),基本上都需要處理。
        如圖4,中間按鍵+/-8K靜電不過(guò)。打開(kāi)手機(jī),用絕緣膠帶把整個(gè)鍵盤(pán)都包裹住,而且要用一整塊的膠帶,不能一小塊的拼湊起來(lái)(如圖5)。最后把鍵盤(pán)的FPC線也用絕緣膠帶包裹起來(lái),F(xiàn)PC線靜電也很容易打壞。

        以上兩種方法,不管是導(dǎo)或者堵的方法都能達(dá)到通過(guò)ESD測(cè)試的目的。用哪種方法可視具體的情況而定。筆者倒是習(xí)慣用導(dǎo)的方法,與其堵而抑之,不如疏而導(dǎo)之。



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