常用的天線測量技術

在測量時，計算機控制測試轉臺轉動，并自動采集各個對應角度的接收信號
的數據（包括幅度、相位），經數據處理，得到天線的各個特性參數（如方向圖、
副瓣電平、零點位置、半功率波瓣寬度等）。

2.近場掃描測量技術

是用一個特性已知的探頭，抽測天線近區某一表面上場的幅、相分布，通過嚴格的數學變換式可以確定天線的遠場特性。根據測量時掃描面的不同，將近場掃描測量技術分為平面掃描近場測量技術，柱面或球面掃描近
場測量技術。
2.1. 平面掃描近場測量技術（平面近場測量）
被測天線不動，X-Y 掃描架帶動測試探頭，測量被測天線在近區平面內的電磁
場分布（包括幅度、相位），經平面近遠場變換，得到天線遠場的特性。
2.2. 柱面掃描近場測量技術（柱面近場測量）
被測天線轉動，加上探頭沿Y 向步進移動，測量被測天線近區柱面上的電磁
場分布（包括幅度、相位），經柱面近遠場變換，得到天線的遠場特性。
2.3. 球面掃描近場測量技術（球面近場測量）
測試時，測試探頭不動，使被測天線沿俯仰軸和方位軸轉動來測試被測天線
近區球面上的電磁場分布，經球面近遠場變換，得到天線的遠場特性。