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        邏輯分析儀之負載效應(yīng)

        作者: 時間:2016-12-26 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
        在數(shù)字系統(tǒng)的時序狀態(tài)分析中,最理想的分析儀器即為邏輯分析儀(Logic
        analyzer)。工程師在使用邏輯分析儀來量測系統(tǒng)訊號時,時常會遇到所量測到的數(shù)據(jù)不
        對,這就要注意有可能是選用的邏輯分析儀的負載效應(yīng)造成的。以下本文將深入來探討
        這個問題。
        了解訊號
        在利用邏輯分析儀量測之前,應(yīng)先了解所要測量的訊號特性,舉例而言,如圖一所
        示,假設(shè)當訊號的工作參考頻率為100MHz(10ns)時,訊號的上升沿、下降沿時間為1ns
        左右,相當于模擬訊號的1GHz頻率點;在工作參考頻率為200MHz時,訊號的上升沿、
        下降沿時間為0.5ns左右,相當于模擬訊號的2GHz頻率點。按照這種對應(yīng)關(guān)系,訊號應(yīng)該
        屬于傳輸線的范圍之內(nèi),而不能用低頻訊號的分析方法來處理。

        依據(jù)傳輸線的理論[1],高頻訊號部份的走線可以建構(gòu)如圖二所示的模型。


        在此,若再將電路板上的其它組件也考慮進去,如連接器、緩沖器、印制板
        走線的特性…等等,即會產(chǎn)生所謂的阻抗匹配的問題。一般情況下,連接器的
        寄生電感值較大,而寄生的電容器值較小,所以特性阻抗大于印制板走線的特
        性阻抗,呈現(xiàn)圖三中所示的阻抗分布。

        而且如果訊號的源端、末端阻抗不匹配導致阻抗特性不連續(xù),必然會產(chǎn)生過沖、振
        鈴訊號劣化現(xiàn)象,如圖四,易造成訊號的誤判,芯片的動作將很容易出錯,也必然會導致
        相關(guān)的硬件系統(tǒng)出錯,最終影響系統(tǒng)的穩(wěn)定性。


        一般簡單的減低過沖及振鈴訊號劣化現(xiàn)象的作法就是做阻抗匹配來讓訊號的源端、
        末端阻抗特性連續(xù),由公式(3)可容易看改變L及C值,可輕易達到增加或降低阻抗Zo。就
        另外的濾通電路觀點而言,任何R、L、C的改變均會有濾通的效果,而過沖及振鈴相對
        頻率相較于訊號的頻率高,故適當?shù)腞、L、C可將過沖及振鈴訊號劣化現(xiàn)象做相當程度
        的濾除或衰減。圖五即為阻抗匹配后的訊號狀況。


        邏輯分析儀量測信道的輸入阻抗
        使用邏輯分析儀來量測訊號不外乎有兩種狀況。
        (一)電路板動作正常,但需要量測芯片所傳送的訊號來加以分析譯碼;
        (二)電路板誤動作,須監(jiān)看芯片所傳送的訊號是否有誤。
        不論是哪一種狀況,工程師當然是需要量測出準確的訊號,最好就是電路
        板上的訊號能忠實的呈現(xiàn),也因如此,邏輯分析儀的量測精準性就格外來得重
        要。
          影響邏輯分析儀的準確性約略可由以下幾個參數(shù)指標來看:
        (一)量測通道的輸入阻抗;
        (二)內(nèi)部采樣率;
        (三)VTH精度。
        以下就單就量測通道的輸入阻抗來探討。
          就如同示波器的一般,負載效應(yīng)(Loading effect)也是邏輯分析儀要考慮
        的重要量測因素。當我們進行量測時,常常會誤以為所測得的訊號和未連入儀
        器時是完全一樣的。實際上每個輸入探頭及通道都有其輸入阻抗,輸入阻抗包
        含了電阻、電容和電感的分量。由于在量測時,引入了額外的負載,所以就會
        影響到被測電路,所以當我們分析量測時,必須考慮到探頭及信道的特性及測
        試電路的阻抗。
        因為邏輯分析儀所要量測的訊號數(shù)量太多,故通道數(shù)量也比示波器多上好
        幾倍。在探頭的設(shè)計上也以一段電纜排線搭配鉤夾的方式處理,如此才能適用
        于電路板上高密度的訊號走線量測。就探頭排線搭配鉤夾的阻抗特性而言,這
        些探頭里沒有任何串聯(lián)的電阻及電子組件,因此,在其工作頻率范圍或有用帶
        寬之內(nèi),探頭對信號沒有衰減作用,就阻抗特性而言只有電纜線與鉤夾的阻
        抗、容抗和感抗的分量,因此如何減低負載效應(yīng)的影響?這就得完全靠邏輯分
        析儀本身的阻抗特性來達成。
        示波器探頭其中一類稱為有源探頭(Active Probe),探頭內(nèi)包含有源電子組
        件可以提供放大能力;不含有源組件的探頭稱為無源探頭(Passive Probe),其中只
        包含無源組件如電阻和電容,這種探頭通常對輸入訊號進行衰減。而類似的,
        邏輯分析儀的每個量測通道前端也有類似的做法,稱之為有源接口跟無源接
        口。如圖六所示:下圖中,無源界面不外乎亦是由電阻、電容所組成,電容將
        訊號耦合到輸出端,電阻是取出訊號的電壓。由電組和電容的值,將可推算出
        其最佳的頻率響應(yīng)點,不是接近此頻率響應(yīng)點的輸入訊號將會大幅的衰減而失
        真。




        使用邏輯分析儀量測訊號
          由上述的兩個章節(jié)中,從認識訊號到量測信道的輸入阻抗探討中,更進一步的就可
        以來探討使用邏輯分析儀量測訊號。
        假設(shè)現(xiàn)有一系統(tǒng),在未連入邏輯分析儀之前的動作都正常,為了要分析訊號數(shù)據(jù),
        將邏輯分析儀連上之后,系統(tǒng)開始出問題并當機;或者是在未連入邏輯分析儀之前的動
        作不正常,為了要除錯,將邏輯分析儀連上之后,系統(tǒng)卻正常了。此時身為工程人員就
        必須想到是否是邏輯分析儀的負載效應(yīng)所造成結(jié)果。

        圖十所示是訊號受到連上邏輯分析儀之后,因為負載效應(yīng)造成訊號電流額外的消耗
        而振幅變小,導致接收訊號端的芯片收到錯誤的訊號。

        圖十一所示為訊號原本的過沖及振鈴訊號劣化現(xiàn)象嚴重,接收訊號端的芯片收到的數(shù)據(jù)
        都是錯的,導致系統(tǒng)動作不正常,但連上邏輯分析儀之后,因為負載效應(yīng)反而讓過沖及
        振鈴訊號劣化現(xiàn)象減輕了,因而反倒讓系統(tǒng)動作正常。
          接下來,要探討邏輯分析儀所量測到的資料是否正確的議題。假設(shè)所使用的邏輯分
        析儀沒有(或是只有極小的)如上文中所探討的負載效應(yīng),不會改變系統(tǒng)的訊號,但是
        我們卻無從得知訊號透過探棒再到邏輯分析儀內(nèi)部的取樣芯片時,訊號是否已經(jīng)有了改
        變?如有改變,那是否意味著量測出來的訊號數(shù)據(jù)也有可能有誤?如此這樣的資料可能
        便不具有分析的意義,這樣的邏輯分析儀是否還是可以使用?圖十二說明了可能的情況:

        圖十二中所示的探棒接口就是前文中所提過的有源/無源界面。這個接口如果是有
        源接口,那經(jīng)過這個接口輸出后的訊號將比較能夠呈現(xiàn)出源頭訊號的樣貌;反之,若是
        無源接口,那經(jīng)過這個接口輸出后的訊號將會有相當程度的衰減,其衰減程度需視源頭
        訊號的頻率與無源接口電路的頻率響應(yīng)關(guān)系。
        圖十三所示:訊號經(jīng)過無源接口電路之后,偏高頻的過沖及振鈴訊號已被將當程度
        的衰減掉了。


        邏輯分析儀實際使用狀況
          綜觀完上述的的探討后,再來看看使用邏輯分析儀做實際的量測狀況。就正常的使
        用狀況,工程人員不可能知道源頭訊號到了邏輯分析儀內(nèi)部之后會變成怎樣,是會有相
        當程度的失真還是會完全的呈現(xiàn)?除非拆了邏輯分析儀的機殼,且在清楚邏輯分析儀內(nèi)
        部組件及電路特性之后,才有可能量測到源頭訊號到了邏輯分析儀內(nèi)部之后是變成怎
        樣。所以在實際使用邏輯分析儀,如何辨識該邏輯分析儀是否所量測得的訊號數(shù)據(jù)是對
        的還是錯的?進而辨識邏輯分析儀的好壞,以下將作實際的量測實驗來驗證。
          如圖十四,這是由示波器所量測的一個33MHz的訊號,可看出此訊號有過沖及振鈴
        的現(xiàn)象。在圖中有兩個參數(shù),好的邏輯分析儀在Threshold Voltage高于3.52V及低于
        1.12V就可以測得第一次的上振鈴跟下振鈴。在此將使用不同的邏輯分析儀來量測此訊
        號,再由邏輯分析儀所量測下來的數(shù)據(jù)來判定邏輯分析儀的優(yōu)劣。
        圖十五與是邏輯分析儀A所量測的結(jié)果。上圖是將Threshold Voltage設(shè)到1V時,就可
        測到第一次的下振鈴;下圖是將Threshold Voltage設(shè)到3.8V時,就可測到第一次的上振
        鈴。
        圖十六是邏輯分析儀B所量測的結(jié)果。上圖是將Threshold Voltage設(shè)到0.5V了,還測不
        到第一次的下振鈴;下圖是將Threshold Voltage設(shè)到4.5V了,還測不到第一次的上振
        鈴。事實上,邏輯分析儀B經(jīng)過繁復測試,結(jié)果是完全測不出振鈴現(xiàn)象的。





        由此可看出邏輯分析儀A是優(yōu)于邏輯分析儀B的。
        圖八所示的即為邏輯分析儀A;
        圖七所示的即為邏輯分析儀B。
        結(jié)論  
        邏輯分析儀不是只光看表面上軟件的功能及體積的大小,如果連最基本的訊號
        都無法測得或是測得的數(shù)據(jù)已經(jīng)不正確了,那即使軟件功能再怎樣強大,外觀做得
        再怎樣好看,所有數(shù)據(jù)結(jié)果也只能丟棄不用。
        毛刺、過沖、振鈴訊號是影響系統(tǒng)穩(wěn)定性的,若儀器無法量測出來,勢必會讓
        工程人員的Debug時間更長,甚至陷入僵局,故慎選邏輯分析儀是十分重要的。

        參考文獻:
        [1]何寧,蔡鍵龍,高速電路設(shè)計中利用CTAB的阻抗補償方法, 2004.


        關(guān)鍵詞: 邏輯分析儀負載效

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