stm32 BKP寄存器操作操作寄存器+庫函數

BKP是“BACKUP”的縮寫，stm32f103RCTE的內部配備了10個16位寬度的BKP寄存器。在主電源切斷或系統(tǒng)產生復位時間時，BKP寄存器仍然可以在備用電源的支持下保持其內容。

BKP在實際應用中可以存入重要數據，防止被惡意查看，或用于斷電等。

本例實現(xiàn)對BKP寄存器的讀寫操作，和入侵檢測和處理。主程序中寫入寄存器后，依次打印出10個BKP寄存器數據，然后觸發(fā)GPIOC13的入侵中斷（輸入低電平），在中斷中打印出入侵事件發(fā)生后的寄存器內容（復位為0 ）。

直接操作寄存器

用到的寄存器描述如下：

備份數據寄存器x(BKP_DRx) (x = 1 … 10)：低16位[15:0]有效，用來寫入或讀出備份數據。

備份控制寄存器(BKP_CR)：

低兩位有效。

TPAL[1]：侵入檢測TAMPER引腳有效電平(TAMPER pin active level)

• 0：侵入檢測TAMPER引腳上的高電平會清除所有數據備份寄存器(如果TPE位為1)
• 1：侵入檢測TAMPER引腳上的低電平會清除所有數據備份寄存器(如果TPE位為1)

TPE[0]：啟動侵入檢測TAMPER引腳(TAMPER pin enable)

• 0：侵入檢測TAMPER引腳作為通用IO口使用
• 1：開啟侵入檢測引腳作為侵入檢測使用

備份控制/狀態(tài)寄存器(BKP_CSR):

本文引用地址：http://www.104case.com/article/201611/318036.htm

TIF[9]：侵入中斷標志(Tamper interrupt flag) 0：無侵入中斷 1：產生侵入中斷

當檢測到有侵入事件且TPIE位為1時，此位由硬件置1。

通過向CTI位寫1來清除此標志位(同時也清除了中斷)。如果TPIE位被清除，則此位也會被清除。

TEF[8]：侵入事件標志(Tamper event flag) 0：無侵入事件 1：檢測到侵入事件

當檢測到侵入事件時此位由硬件置1。通過向CTE位寫1可清除此標志位

TPIE[2]：允許侵入TAMPER引腳中斷(TAMPER pin interrupt enable)

0：禁止侵入檢測中斷 1：允許侵入檢測中斷(BKP_CR寄存器的TPE位也必須被置1)

注1：侵入中斷無法將系統(tǒng)內核從低功耗模式喚醒。 注2：僅當系統(tǒng)復位或由待機模式喚醒后才復位該位。

CTI[1]：清除侵入檢測中斷(Clear tamper interrupt)

0：無效 1：清除侵入檢測中斷和TIF侵入檢測中斷標志

CTE[0]：清除侵入檢測事件(Clear tamper event)

0：無效 1：清除TEF侵入檢測事件標志(并復位侵入檢測器)。

要寫入BKP寄存器數據必須在 PWR->CR中取消備份區(qū)寫保護，才可以寫入BKP數據。stm32開啟入侵檢測也不需要設置GPIOC的時鐘和輸入輸出模式。

代碼如下：（system.h 和stm32f10x_it.h等相關代碼參照stm32 直接操作寄存器開發(fā)環(huán)境配置）

User/main.c

Library/src/bkp.c

Library/inc/bkp.h

stm12f10x_it.c

}