NI引領PXI發展新潮流，打造更智能的系統測試

　　NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI)近日在上海舉辦了第十三屆“PXI 技術和應用論壇”(PXI Technology & Application Conference，即 PXI TAC)。作為PXI標準的發起者，每年一度的PXI TAC已經成為國內PXI技術應用的新成果展示舞臺，NI攜手眾多合作伙伴共同為600余名行業領軍人物、技術專家和相關機構代表展示了基于PXI技術實現的各種系統設計理念，共同分享最新、最全、最前沿的測試領域技術干貨，探討PXI技術的發展趨勢和應用案例。

　　本次PXI TAC的主題為“更智能的系統-更智能的系統測試”， 在今年的PXI TAC上，NI發布了7位半數字萬用表(DMM)、802.11ax無線測試解決方案、用于毫米波(mmWave)的軟件無線電(SDR)和模塊化源測量單元(SMU)等多款業界首創的PXI新產品，再度引領PXI技術發展的新潮流，致力于幫助用戶打造更加智能的系統測試解決方案。同時，15家國內外知名PXI供應商和系統集成商亮相本次PXI TAC，展示了他們基于PXI技術開發的各項產品和技術應用。

　　自NI推出PXI技術以來，PXI平臺現已成為了自動化測試和控制的主流平臺。和傳統儀器相比，PXI平臺具有較高的測量能力，低延遲和高帶寬，軟件靈活定義，集成定時和同步，高處理性能，尺寸、重量、功耗小，平臺儀器齊全等優點;并且PXI平臺可以作為整個系統的中心，連接已有的其他儀器，如LXI，VXI，USB，GPIB等，在最大可能減少系統瓶頸的情況下，保持已有設備投資。因此，越來越多的客戶使用PXI平臺的儀器開展自動化測試。據Frost & Sullivan預測，到2021年，PXI平臺作為整個儀器行業的主力增長力量，將會一直以超過15%的增長率持續增長。

　　圖：NI全球市場高級副總裁Ajit Gokhale

　　NI始終致力于PXI技術的不斷進步，并在這一領域不斷投入和持續創新。隨著以物聯網為代表的智能系統的興起，智能設備呈爆炸式增長態勢，對測試和測量任務提出更加嚴峻的挑戰。“在物聯網的大背景下，智能設不斷涌現，形成了更智能的系統，這就必然需要更加智能的測試系統。憑借開放靈活的軟件、模塊化的硬件和完整的生態系統，PXI平臺獲得了自動化測控領域工程師的一致認可，”NI全球市場高級副總裁Ajit Gokhale表示，“作為PXI平臺的發明者和市場領導者， NI多年來堅持將PXI TAC打造成開放、自由的技術交流平臺。我們期待與各界同仁攜手，促成PXI平臺的持續創新，應對測試測量任務越來越嚴峻的挑戰。”