一種提高TMS320F2812 ADC精度的方法
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圖3校正后的電壓轉換電路
2 ADC校正
2.1校正方法
通過以上分析可以看出，F2812的ADC轉換精度較差的主要原因是存在增益誤差和失調誤差，因此要提高轉換精度就必須對兩種誤差進行補償。對于ADC模塊采取了如下方法對其進行校正。
選用ADC的任意兩個通道作為參考輸入通道，并分別提供給它們已知的直流參考電壓作為輸入（兩個電壓不能相同），通過讀取相應的結果寄存器獲取轉換值，利用兩組輸入輸出值求得ADC模塊的校正增益和校正失調，然后利用這兩個值對其他通道的轉換數據進行補償，從而提高了ADC模塊轉換的準確度。圖1示出了如何利用方程獲取ADC的校正增益和校正失調。具體計算過程如下：
① 獲取已知輸入參考電壓信號的轉換值yL和yh。
② 利用方程y=x×ma+b及已知的參考值（xL，yL）和（xH，yH）計算實際增益及失調誤差：
實際增益ma=(yH-yL)/（xH-xL）；
失調誤差 b=yL -xL×ma。
③ 定義輸入x=y×CalGain-CalOffset，則由方程y=x×ma+b得校正增益CalGain=1/ma=（xH-xL）/(yH -yL)，校正失調CalOffset=b/ma=yL/ma-xL。
④ 將所求的校正增益及校正失調應用于其他測量通道，對ADC轉換結果進行校正。
上述即為實現ADC校正的全過程，通過使用這種方法，ADC的轉換精度有很大提高。由于這種方法是通過某個通道的誤差去修正其他通道的誤差，因此要采用這種方法，必須保證通道間具有較小的通道誤差。對F2812ADC轉換模塊，由于其通道間的增益及失調誤差均在0.2%以內，所以可以采用這種方法對其進行校正。
2.2 軟件實現
與一般的ADC轉換程序相比，帶校正的ADC轉換程序需要另外增加兩個程序段：校正值的計算以及利用校正值對ADC進行處理。為了方便操作及轉換結果獲取，實現中定義了結構體變量ADCCALIBRATIONVARS，用來保存ADC轉換后的各種數據。另外,提高程序的通用性，采樣的方式、參考電壓值及高低電壓理想的轉換值均在ADC轉換頭文件ADCCalibration.h中定義。ADCCALIBRATIONVARS定義如下：
typedefstruct{
Uint*RefHighChAddr;//參考高電壓所連通道地址
Uint*RefHighChAddr;//參考低電壓所連通道地址
Uint*ChoAddr;//0通道地址
UintAvg_RefHighActualCount;//參考高電壓實際轉換值
UintAvg_RefHighActualCount;//參考低電壓實際轉換值
UintRefHighIdealCount;//參考高電壓理想轉換值
UintRefLowCount;//參考低電壓實際轉換值
UintCalGain;//校正增益
UintCalOffset;//校正失調
//校正通道的轉換值
UintCh0;
UintCh16;
}ADC CALIBRATION VARS;
整個A/D轉換任務由中斷函數intADC()和主函數ADCCalibration()構成。中斷函數主要用于轉換數據的讀取，而校正參數計算及各通道轉換結果的修正在主函數完成。校正完后，將結果保存到所定義的結構體變量中。此處，對ADC的校正采用單采樣單校正的處理方法，當然也可以采用多采樣單校正的處理方法，但是為了提高精度，如果設計系統開支允許，建議最好使用單采樣單校正的方法，以提高ADC精度。
2.3實驗結果
筆者在自己所使用的F2812系統上進行了實驗，選用1 V和2 V作為參考電壓，選用通道A6和A7作為參考通道，通過對0 V、0.5 V、1.5 V、2.5 V校正前后的數據進行比較，發現采用上述校正方法后，ADC的轉換準確度明顯得到改善，比較結果如表2所列。
注：由參考電壓計算得：CalGain=0.965；CalOffset=6.757。
表2中所給出的數據只是筆者進行大量實驗后所得數據的一組，實驗證明通過校正后ADC的誤差能被控制在0.5%以內，這對大多數測控系統來說已滿足要求，對于轉換精度要求更高的系統，可以采用外擴A/D轉換器。
結語
A/D轉換器是數據采集電路的核心部件，其良好的精度與準確性是提高數據采集電路性能的關鍵。TMS320F2812作為TI公司推出的一款集微控制器及數字信號處理器于一身的32位處理器，以其運行速度高和強大的處理功能得到廣泛應用，而對其ADC模塊精度的提高，將進一步提高其在控制領域中的應用。本文提出的用于提高ADC模塊精度的校正算法，經實際應用證明實用可行。本文引用地址：http://www.104case.com/article/195285.htm
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