一種測試系統數字穩壓電源的設計方案

圖3 PID控制算法流程圖。

PID控制算法程序采用結構體定義：

struct PID{

unsigned int SetPoint; //設定目標Desired Value

unsigned int Proportion; //比例常數Proportional Const

unsigned int Integral; //積分常數Integral Const

unsigned int Derivative; //微分常數Derivative Const

unsigned int LastError; //Error[-1]

unsigned int PrevError; //Error[-2]

unsigned int SumError; //Sums of Errors

}spid;

在PID控制算法中，經過不斷與給定值進行比較，動態控制電壓電流輸出的穩定，同時確保電壓電流輸出的精度。

PID控制算法程序如下：

unsigned int PIDCalc（struct PID *pp,unsigned int Next-Point）

{

unsigned int dError,Error;

Error=pp->SetPoint-NextPoint; //偏差

pp->SumError+= Error; //積分

dError=pp->LastError-pp->PrevError; //當前微分

pp->PrevError=pp->LastError;

pp->LastError= Error;

return（pp->Proportion* Error //比例

+pp->Integral*pp->SumError //積分項

+pp->Derivative*dError）； //微分項

}

3.4 系統程序

測試系統的整體程序流程圖如圖4所示。

圖4 主程序流程圖

本文所設計的測試系統數字穩壓電源能夠滿足芯片測試所需的電源要求。圖5為輸出的一路電壓。由圖可知，所輸出的電壓穩定。

圖5 輸出電壓波形圖

4 結 語

本文設計的穩壓電源提供的電壓穩定可靠，系統運行也非常穩定。由于可擴展的I/O 非常多，可以同時為多個芯片提供各種所需的穩壓電源電壓值。該系統不僅能夠用在實驗室芯片測試工作中，而且可以通過軟件編程的方法，修改一些控制程序，使所設計的穩壓電源作為智能電子產品性能測試的電源電壓，這樣提高了設備的使用效率，有著不錯的應用前景。