NI 5665 與傳統(tǒng)儀器對比演示-設(shè)置與細(xì)節(jié)

EVM測量

在EVM測試中，使用NI PXIe-5673矢量信號(hào)發(fā)生器生成一個(gè)LTE信號(hào)。兩個(gè)儀器均使用如下設(shè)置：

·RBW = 30 kHz
10 dB 衰減
10 次平均
關(guān)閉自動(dòng)峰值檢測

圖 10. 使用Agilent PXA 和 NI PXIe-5665進(jìn)行LTE EVM 測試。

使用可編程的FPGA進(jìn)行在線處理

圖 11. 將信號(hào)處理移至FPGA上進(jìn)行可以節(jié)省時(shí)間。

NI FlexRIO非常靈活，可以作為一個(gè)協(xié)處理器。在這一演示的設(shè)置中，所有來自PXIe-5665的數(shù)據(jù)都是在FPGA上進(jìn)行處理；而在之前的演示設(shè)置中，數(shù)據(jù)是在嵌入式處理器中進(jìn)行處理。這一特性的應(yīng)用非常廣泛，例如硬件處理的算法、協(xié)議實(shí)現(xiàn)以及實(shí)時(shí)激勵(lì)-響應(yīng)等應(yīng)用。

測試時(shí)間比較（包含設(shè)置時(shí)間）

前面所有的測試演示都只針對單次測量的時(shí)間。而在本項(xiàng)測試中，除了測量時(shí)間以外，還將考慮設(shè)置時(shí)間。這在包含多種測試標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)化測試（例如功率放大器測試）之中很有必要。

圖 12. 若考慮設(shè)置時(shí)間，NI 5665的速度要快20倍。

總結(jié)

對于一個(gè)典型的測試設(shè)置來說，相對于使用Agilent PXA，NI PXIe-5665能夠提供相同或者更好的性能，而且在大多數(shù)測試中要快14-15倍。同時(shí)，NI PXIe-5665的成本要比傳統(tǒng)臺(tái)式儀器小得多。在下表中，對NI 5665以及相對應(yīng)的Agilent PXA價(jià)格進(jìn)行了比較。

在自動(dòng)化測試系統(tǒng)中，PXI機(jī)箱和MXI控制器的花費(fèi)通常被系統(tǒng)中的所有儀器均攤。例如，如果一個(gè)測試系統(tǒng)中包含兩個(gè)NI PXIe-5665矢量信號(hào)分析儀，并插在一個(gè)PXIe機(jī)箱中，則機(jī)箱和控制器的費(fèi)用只會(huì)發(fā)生一次，因此總的投入要少于2 x $58,597。然而，如果一個(gè)測試系統(tǒng)中包含兩套PXA，則投入為2 x $87,745。

注意：對于自動(dòng)化測試應(yīng)用來說，Agilent PXA和NI PXIe-5665在PC和所選編程語言（如LabVIEW、CVI、Visual Studio等）方面的投入是相同的，因此也沒有將其納入到比較當(dāng)中。