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        基于Pspice的放大器環路的穩定性分析

        作者: 時間:2012-06-21 來源:網絡 收藏

        圖6:CF最優化噪聲增益曲線。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/193680.htm

          大部分仿真器都允許使用圖6所示的“.STEP PARAM”語句來進行多級仿真并顯示迭加的結果。其它仿真器可能有專用命令來實現此類同步仿真功能。最優CF值在噪聲增益函數與LMH6629的開環增益曲線相交頻率處給噪聲增益函數設置了一個極點。由圖6可知,在本例中,CF=0.25pF。

          大于0.25pF的更高CF值將會帶來帶寬損失,相應地,若CF低于0.25pF,相位裕度又將不足。如果CF足夠高(本例中是7pF),噪聲增益曲線有可能在低于20dB處與開環曲線相交。20dB是LMH6629的最小穩定增益。這種情況下電路可能將不再穩定或者可能出現過高頻率響應峰值。因此必須有一個穩定范圍和最優值。

          圖7所示的是當CF=0.25pF時,頻率函數LG的結果曲線。在沒有CF的情況下,相位裕度從原來的0o增加到61o。

          

        《電子系統設計》

          圖7:開環曲線繪制驗證CF令相位裕度得以改善。

          找到最優CF值后,可以重新查看初始的閉環配置(沒有大電感和電容加入到LG和NG的研究中),在使用最優CF值(此時是0.25pF)的情況下可以得到階躍響應。圖8顯示了面向不同CF的響應曲線,證實了CF值不論是偏大或是偏小,都會造成系統的不穩定,或是振鈴時間和穩定時間的延長;而最優CF值可以在最小振鈴下實現非常好的階躍響應。顯然,無論CF取值0pF還是7pF,電路都非常地不穩定。這表明7pF時的振蕩頻率遠高于0pF時的振蕩頻率,并不是因為噪聲增益與開環增益曲線的交接頻率較高(如圖6所預測的那樣)。

          

        《電子系統設計》

          圖8:不同CF對應的閉環階躍響應。

          實際考慮和實驗結果比較

          利用基于的分析方法來研究合適的補償值,并通過仿真找到最佳響應時的參數值后,接下來就是在實驗臺上驗證仿真結果。圖9為一個實驗臺的驗證設置示意圖。

          

        《電子系統設計》

          圖9:TIA補償實驗臺驗證設置。

          以下是圖9實驗臺設置的一些要點。

          低電容值和實驗臺優化:為降低有效電容值,可以將RA、RB串在一起并與CF鄰接,這樣可以用一個市場上容易找到的電容(>1pF)來獲取皮法以下的電容值,而該值很難直接獲得。只要RB RF,該電路即可將CF的等效電容值降低1+ RB/RA倍。該方法可以得到一個0.20pF的等效電容,選用這樣的設置是因為0.25pF的仿真值會產生過阻尼實驗臺響應。物理電路板會存在一定的寄生電感和電容,它們可以被最小化,但是不能完全降低到0。因此,人們希望通過實驗臺測試來促進對仿真結果的優化,特別是在處理皮法級以下的標稱值時。等效電容為0.20pF時,檢測到的帶寬為70MHz;而當等效電容為0.25pF時,帶寬下降至55MHz。

          等效光電二極管實驗臺設置:為便于測試,所示的(Rin, Cin以及CD)前端配置允許使用標準的50?實驗室設備來模擬光電二極管的性能。這里CD(假設為光電二極管電容)被設定為10pF。

          

        《電子系統設計》

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