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        物位計(jì)測(cè)量技術(shù)難點(diǎn)剖析

        作者: 時(shí)間:2012-11-08 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        引言

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/192971.htm

          調(diào)頻連續(xù)波( frequency modulated contin - uous wave,F(xiàn)MCW)雷達(dá)是一種通過對(duì)連續(xù)波進(jìn)行頻率調(diào)制來獲得距離與速度信息的雷達(dá)體制系統(tǒng),由于它具有無距離盲區(qū)、高分辨率和低發(fā)射功率等優(yōu)點(diǎn),近年來受到了人們的廣泛關(guān)注。

          一、物位發(fā)展

          物位經(jīng)歷了結(jié)構(gòu)上從機(jī)械式儀表向電子式儀表發(fā)展,以及工作方式上由接觸式向非接觸式發(fā)展的階段。

          物位儀表的分類如圖1所示。

          

          圖1中,前4種都屬于接觸式測(cè)量方法,第5種輻射法為非接觸測(cè)量方法。其中,直視法是指眼睛可以直接觀測(cè)到介質(zhì)容量變化的一類方法;測(cè)力法是指通過被測(cè)介質(zhì)對(duì)指示器或傳感器等目標(biāo)施加外力來測(cè)量的方法;壓力法是由被測(cè)介質(zhì)施加在測(cè)量探頭而產(chǎn)生壓力進(jìn)行測(cè)量的方法;電特性法是利用被測(cè)介質(zhì)的電特性進(jìn)行測(cè)量的方法;輻射法采用電磁頻譜原理技術(shù)。

          前4種方法需要測(cè)量?jī)x器的全部或一部分部件與被測(cè)介質(zhì)(固體或液體物料)相接觸才能達(dá)到測(cè)量的目的。從長(zhǎng)期來看,物料粘附物及沉積物會(huì)對(duì)這些機(jī)械部件產(chǎn)生附著,當(dāng)物料為腐蝕性或易產(chǎn)生水銹的介質(zhì)時(shí),對(duì)儀器精度的影響將更加嚴(yán)重。在工業(yè)生產(chǎn)中,對(duì)物位儀表最基本的要求是高精度和高可靠性,這就需要有應(yīng)用范圍更大、精度更高的技術(shù)出現(xiàn)。


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