基于GB3442-82的集成運放參數測試儀設計

AVD的測量誤差在很大程度上取決于電路中R1、R2的匹配精度，若匹配誤差為δ=(R1-R2)/R2，δ1=(Rf-Ri)/Ri，則單純由電阻失配引起的相對誤差為△A VD=20 log(δ+1)，該系統占為0．6％。
3．2．3 共模抑制比KCMR的測量
閉合S1、S3、S4、S10、S12，S2→1、S11→3、S13→1，設信號源輸出電壓為VS，測得輔助運放輸出電壓為VIO，則有：

KCMR的測量誤差在很大程度上取決于電路中待測運放兩輸入端電阻的匹配精度，若匹配誤差為δ1，則單純由電阻失配引起的相對誤差為△KCMR=20log(δ1+1)，δ1=δ。

5 系統測量與分析
利用該系統測量OP07、μA741、LF256等，運放器件的參數可在FPGA顯示器上顯示，后果表明，該測試儀測量精度高，符合設計要求，其中表1是測量OP07結果。

6 結束語
該系統完成了對運放參數VIO(0～40 mV)、IIO(0～4μA)、AVD(60～120 dB)、KCMR的測量，(誤差分別為1％和±2 dB)，而且還實現了BWC的測量和自動量程轉換功能，其中掃頻信號的步進頻率為1 kHz，電壓有效值為(2±0．1)V。系統通過FPGA提供鍵盤和顯示器等人機交互界面。能準確實現對測量方式的控制及相關信息的顯示，且增加觸摸屏控制和打印測量結果功能，具有較好的可重復性和參考性。另外，在系統中通過對硬件的處理，消除了因使用繼電器由環路正反饋帶來的自
激效應，進一步提高了系統穩定性。