用于測試電容的電路

電解電容會(huì)隨時(shí)間而泄漏。圖1中的電路可以用來測試電容，決定它們是否值得使用。通過CREF/RREF比值可以設(shè)定對(duì)泄漏的限制條件。圖中的值適用于所有電容的一般測試，從1nF的陶瓷電容，到1000μF的電解電容。電路中，CREF的值接近于待測電容值CX。另外也可以用旋轉(zhuǎn)切換的方法選擇RREF，使之大于或小于22 MΩ。

當(dāng)按鍵開關(guān)閉合時(shí)，電容CREF與CX通過各自相應(yīng)的PNP晶體管充電。當(dāng)開關(guān)打開時(shí)，這些電容開始放電。CREF(假設(shè)處于良好狀況)有額外的放電外接電阻。而待測電容CX則通過自己的內(nèi)阻放電。如果CX的泄漏大于CREF通過RREF的泄漏，則CX電壓下降得更快。于是，運(yùn)放非反相輸入端的電壓會(huì)低于反相輸入端，使運(yùn)放輸出為低，使紅色LED發(fā)光。這只LED用于表示被測電容有泄漏。對(duì)電路的測試表明，甚至1nF的陶瓷電容都能檢測。檢查測試電容的額定值，確保其高于將充電的電壓值，此時(shí)VSUPPLY 為-1.8V。

LF357的最低供電電壓為10V，但測試只需要6V，因此測試電容允許有一個(gè)低的上限電壓。要確認(rèn)電容有FET或MOSFET的輸入級(jí)。