NI參加2013年汽車測試及質量監控博覽會

　　美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)于2013年9月10日至12日參加在上海光大會展中心舉辦的2013年汽車測試及質量監控博覽會。在此次汽車測試與質量監控博覽會上面，NI聯合多家業內資深的合作伙伴集中展示了在汽車領域多項前端應用和解決方案。

　　NI公司的產品幾乎被所有的汽車OEM與一級供應商所采用。因為具有領先的I/O、靈活的硬件、強大高效的LabVIEW平臺，用戶可以創建適合多種應用的解決方案。目前，NI的產品涉及了快速控制原型、汽車終端測試、TEST Cell的測量與控制、硬件在環、車載測試與記錄等幾大領域。在此次博覽會上NI帶來了下列幾項產品的展示:

　　· 新能源高仿電機的μ秒級仿真
　　· 汽車電子綜合功能測試系統
　　· 高可靠性數據采集與分析管理
　　· ECU 硬件在環仿真(HIL)與快速原型設計 (RCP)
　　· 噪音、振動與舒適度(NVH)
　　· 汽車總線網絡監控與驗證
　　· 引擎控制設計與燃燒分析系統
　　· 高效的汽車行業測控設計軟件工具鏈
　　· NI 測量、采集與控制硬件平臺

　　與此同時，NI攜手幾家業界資深合作伙伴(北京恒潤科技、蘇州凌創電子、上海聚星儀器和上海其高電子)分別就ECU硬件在環、電控單元自動化測試、車載數據采集、存在與管理和汽車NVH & 模態等等提供了完整的解決方案。展會現場多家合作伙伴也提供了他們對于整車廠商和一級供應商提供的成熟解決方案。

　　在展會期間，NI 行業市場部經理付文武以“NI 開放平臺助力汽車行業測控應用的發展”為題作了主題報告，介紹了 NI 及業內合作伙伴在汽車電子自動測試、硬件在環與快速原型設計、新能源汽車及關鍵部件測試、車載數據采集等應用領域的最新進展。

　　相信通過此次博覽會，客戶一定可以就NI在汽車電子測試領域的理念和產品有一個較全面的了解。