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        電源網(wǎng)格的電壓下降和電遷移效應(yīng)分析

        作者: 時(shí)間:2010-12-23 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        集成電路分配系統(tǒng)的用途是提供晶體管執(zhí)行芯片邏輯功能所需的與電流。在0.13微米以下工藝技術(shù)時(shí),IC設(shè)計(jì)師不能再想當(dāng)然地認(rèn)為VDD和VSS網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)是正確的,必須進(jìn)行詳盡的才能確認(rèn)他們的分配方法是否真的具有魯棒性。VDD網(wǎng)絡(luò)上的(IR)和VSS網(wǎng)絡(luò)上的地線反彈會(huì)影響設(shè)計(jì)的整個(gè)時(shí)序和功能,如果忽視它們的存在,很可能導(dǎo)致芯片設(shè)計(jì)的失敗。中的大電流也會(huì)引起電(EMI),在芯片的正常壽命時(shí)間內(nèi)會(huì)引起電源的金屬線性能劣化。這些不良最終將造成代價(jià)不菲的現(xiàn)場(chǎng)故障和嚴(yán)重的產(chǎn)品可靠性問(wèn)題。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/180053.htm

        電源的IR壓降和地線反彈

        引起VDD網(wǎng)絡(luò)上IR壓降的原因是,晶體管或門的工作電流從VDD I/O引腳流出后要經(jīng)過(guò)電源網(wǎng)格的RC網(wǎng)絡(luò),從而使到達(dá)器件的VDD有所。地線反彈現(xiàn)象與此類似,電流流回VSS引腳時(shí)也要經(jīng)過(guò)RC網(wǎng)絡(luò),從而導(dǎo)致到達(dá)器件的VSS電壓有所上升。更加精細(xì)的設(shè)計(jì)工藝和下一代設(shè)計(jì)技術(shù)使新的設(shè)計(jì)在IR壓降或地線反彈方面要承受更大的風(fēng)險(xiǎn)。電源網(wǎng)格上的IR壓降主要影響時(shí)序,它會(huì)降低門的驅(qū)動(dòng)能力,增加整個(gè)路徑的時(shí)延。一般情況下,供電電壓5%會(huì)使時(shí)延增加15%以上。時(shí)鐘緩沖器的時(shí)延會(huì)由于IR壓降增加1倍以上。當(dāng)時(shí)鐘偏移范圍在100ps內(nèi)時(shí),這樣的時(shí)延增幅將是非常危險(xiǎn)的。可以想象一下集中配置的關(guān)鍵路徑上發(fā)生這種未期而至的延時(shí)會(huì)出現(xiàn)什么樣的情景,顯然,設(shè)計(jì)的性能或功能將變得不可預(yù)測(cè)。理想情況下,要想提高設(shè)計(jì)精度,其時(shí)序計(jì)算必須考慮最壞情況下的IR壓降。

        電源網(wǎng)格方法主要有靜態(tài)和動(dòng)態(tài)兩種方法。

        靜態(tài)電源網(wǎng)格

        靜態(tài)電源網(wǎng)格分析法無(wú)需額外的電路仿真即能提供全面的覆蓋。大多數(shù)靜態(tài)分析法都基于以下一些基本概念:

        1.提取電源網(wǎng)格的寄生電阻;


        2.建立電源網(wǎng)格的電阻矩陣;


        3.計(jì)算與電源網(wǎng)格相連的每個(gè)電阻或門的平均電流;


        4.根據(jù)晶體管或門的物理位置,將平均電流分配到電阻矩陣中;


        5.在每個(gè)VDD I/O引腳上將VDD源應(yīng)用到矩陣;圖1:電壓(IR)下降分析-不同的陰影代表不同的IR壓降水平。


        6.利用靜態(tài)矩陣解決方案計(jì)算流經(jīng)電阻矩陣的電流和IR壓降;

        由于靜態(tài)分析法假設(shè)VDD和VSS之間的去耦電容足夠?yàn)V除IR壓降或地線反彈的動(dòng)態(tài)峰值,因此其結(jié)果非常接近電源網(wǎng)格上動(dòng)態(tài)轉(zhuǎn)換的效果。

        靜態(tài)分析法的主要價(jià)值體現(xiàn)在簡(jiǎn)單和全面覆蓋。由于只需要電源網(wǎng)格的寄生電阻,因此提取的工作量非常小。而且每個(gè)晶體管或門都提供對(duì)電源網(wǎng)格的平均負(fù)載,因此該方法能夠全面覆蓋電源網(wǎng)格,但它的主要挑戰(zhàn)在于精度。靜態(tài)分析法沒(méi)有考慮本地動(dòng)態(tài)和封裝傳導(dǎo)效應(yīng)(Ldi/dt),如果電源網(wǎng)格上沒(méi)有足夠的去耦電容,那么這二者都會(huì)導(dǎo)致進(jìn)一步的IR壓降和地線反彈。

        動(dòng)態(tài)電源網(wǎng)格分析

        動(dòng)態(tài)電源網(wǎng)格分析法不僅要求提取電源網(wǎng)格的寄生電阻,還要求提取寄生電容,并要完成電阻RC矩陣的動(dòng)態(tài)電路仿真。動(dòng)態(tài)電源網(wǎng)格分析法的典型步驟是:

        1.提取電源網(wǎng)格的寄生電阻和電容;


        2.提取信號(hào)網(wǎng)絡(luò)的寄生電阻和電容;


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