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        準(zhǔn)諧振反激式電源架構(gòu)及應(yīng)用

        作者: 時(shí)間:2011-08-29 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/178671.htm

          圖4 MOSFET漏-源電壓

          準(zhǔn)或谷值開關(guān)的優(yōu)勢

          在反激式設(shè)計(jì)中采用準(zhǔn)或谷值開關(guān)方案有著若干優(yōu)勢。

          降低導(dǎo)通損耗

          這種設(shè)計(jì)為設(shè)計(jì)人員提供了較低的導(dǎo)通損耗。由于FET轉(zhuǎn)換具有最小的漏源電壓,在某些情況下甚至為零,故可以減小甚至消除導(dǎo)通電流尖峰。這減輕了MOSFET的壓力以及的EMI。

          降低關(guān)斷損耗

          準(zhǔn)也意味著更小的關(guān)斷損耗。由于規(guī)定FET會(huì)在谷值處進(jìn)行轉(zhuǎn)換,在某些情況下,可能會(huì)增加額外的漏源電容,以減低漏源電壓的上升速度。較慢的漏源電壓上升時(shí)間會(huì)減少FET關(guān)斷時(shí)漏級(jí)電流和漏源電壓之間的電壓/電流交迭,使到MOSFET的功耗更少,從而降低其溫度及增強(qiáng)其可靠性。

          減少EMI

          導(dǎo)通電流尖峰的減小或消除以及較慢的漏源電壓上升速度都會(huì)減少EMI。一般而言,這就允許減少EMI濾波器的使用數(shù)量,從而降低成本。

          結(jié)語

          利用準(zhǔn)諧振技術(shù)可以協(xié)助設(shè)計(jì)人員實(shí)現(xiàn)這些目標(biāo)。準(zhǔn)諧振或谷底開關(guān)能減輕MOSFET的壓力,從而提高其可靠性。利用準(zhǔn)諧振技術(shù),由于波形的諧波含量降低,電源的EMI因此得以減少。


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