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        高功率LED開發之CFD模擬散熱解決方案

        作者: 時間:2011-11-19 來源:網絡 收藏
        測量介電層以計算熱阻

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/178374.htm

          要計算垂直通過芯片的熱阻,須測量芯片黏合層、芯片墊片、TIM、片以及與基體間的介電層,每階層都各自擁有自己的導熱特性(表2),其中通過芯片,也就是接面到外部環境的熱阻Rja可透過方程式(1)、(2)加以計算:

          

          其中RJ-MS=10 ℃/W

          Rja代表熱能由芯片傳遞到外界的能力,也就是說,Rja的數值越低、效能越好,圖2分別顯示封裝結構的3D、2D橫切面圖,有助于了解整個路徑。

          

          圖2 上圖為星狀包裝的3D剖面圖,下圖為帶散熱片星狀封裝的2D剖面圖。

          進行數值分析/實驗結果分析

          安排在MCPCB上的LED封裝通常采用鋁擠方式做為基底,一百一十根鰭片的鰭片型散熱片則透過導熱膠帶黏貼在星形MCPCB背面,封裝以1.2瓦驅動,焊接點的溫度TMetalSlug則透過安排在封裝散熱塊上的熱電偶加以測量(圖3),測量只有在溫度到達穩定時才進行。

          

          圖3 Moonstone LED封裝上的測量點

          表2為仿真模型結果與測量數據的比較,可視化仿真結果分別顯示在圖4,當仿真結果溫度高于測量溫度時,代表數值模型忽略部分的冷卻現象。

          表2 仿真結果與測量數據的比較

          

          

          圖4 上圖為LED星形封裝的可視化結果,下圖為詳細散熱片模型的MCPCB LED封裝可視化仿真結果。



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