LED照明器件與系統(tǒng)設(shè)計(jì)因素

　　靜電放電測(cè)試時(shí)要求一次至少使用三個(gè)樣本，每個(gè)樣本規(guī)定的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)都要事先進(jìn)行測(cè)試并記錄。

　　① 在試驗(yàn)器插座上(A，B端)分別插上評(píng)價(jià)負(fù)載(短路線和R2);電流探針置于B端處;按表4設(shè)置試驗(yàn)器充電電壓;

　　② 分別引發(fā)試驗(yàn)器脈沖，觀測(cè)電壓波形，要求上升時(shí)間、峰值電流和振鈴波形滿足要求。采用拍照或數(shù)字貯存方式記錄這些波形。

　　③ 在試驗(yàn)器插座上換上被測(cè)器件(DUT)進(jìn)行放電試驗(yàn)，通常按表4從最低電壓檔開始，每個(gè)被測(cè)器件應(yīng)采用一個(gè)正向和一個(gè)反向脈沖試驗(yàn)，允許脈沖之間至少間隔0.3s時(shí)間。

　　④ 在室溫下測(cè)試樣本的所有靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)。如果要求多個(gè)溫度，首先從最低溫度開始。

　　⑤ 如果所有三個(gè)樣本都通過(guò)規(guī)定數(shù)據(jù)的參數(shù)測(cè)試，則再用表4中更高一擋電壓試驗(yàn)。記錄通過(guò)的最高電壓檔。

　　⑥ 如果有一個(gè)或多個(gè)樣本失效，重新用三個(gè)新的樣本，以降低一擋表4中電壓進(jìn)行試驗(yàn)。如果繼續(xù)有失效，再降低一擋，如果還有失效，則停止試驗(yàn)。

　　⑦ 按表4進(jìn)行分級(jí)。

　　2) 機(jī)器模式的靜電放電敏感性測(cè)試

　　圖5　機(jī)器模式的靜電放電敏感性測(cè)試原理圖

　　① 雙極性脈沖發(fā)生器應(yīng)該設(shè)計(jì)為避免重復(fù)充電和產(chǎn)生雙脈沖。不能靠交換A、B端點(diǎn)來(lái)獲得雙極性性能。

　　② 開關(guān)SW1須在脈沖通過(guò)后關(guān)閉10ms～100ms，以確保被試插座不在充電狀態(tài)，它也應(yīng)該先于下個(gè)脈沖到來(lái)前至少開啟10ms。電阻R1和開關(guān)串聯(lián)以確保器件有一個(gè)慢放電，這樣就避免了一個(gè)帶電器件模式放電的可能性。

　　③ 圖5中評(píng)價(jià)電阻負(fù)載1為：一種截面為0.83mm2～0.21mm2鍍錫銅短路線，長(zhǎng)度不大于75mm。負(fù)載2為：500Ω，±1%，1000V。

　　④ 電流傳感器要求

　　最小帶寬350MHz;

　　峰值脈沖電流15A;

　　上升時(shí)間小于1ns;

　　能采用1.5mm直徑的實(shí)導(dǎo)體;

　　能提供1mv/mA～5 mv/mA的輸出電壓;

　　⑤ 測(cè)試插座上再疊插一個(gè)插座(第二個(gè)插座疊插在主測(cè)試插座上)的情況，僅在第二個(gè)插座的波形滿足本標(biāo)準(zhǔn)的要求才允許;

　　圖6 通過(guò)短路線的400V電壓放電電流波形

　　圖7　通過(guò)500Ω電阻的400V電壓放電電流波形

　　測(cè)試步驟：

　　機(jī)器模式靜電放電測(cè)試時(shí)要求一次測(cè)試至少使用三個(gè)樣本，每個(gè)樣本規(guī)定的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)都要事先進(jìn)行測(cè)試并記錄。

　　① 在試驗(yàn)器插座上(A，B端)插上短路線，分別施加100V、200V、400V電壓，電流探針置于B端處;記錄正和負(fù)的波形，修正波形使其滿足圖6的要求。

　　② 使用500Ω電阻，加電壓±400V，記錄并修正波形使其滿足圖7的要求。

　　③ 按表7確定靜電放電測(cè)試起始電壓。

　　④ 加三個(gè)正的和負(fù)的脈沖到每個(gè)被測(cè)試樣本，脈沖之間的間隔至少要1s。

　　⑤ 在室溫下測(cè)試樣本的所有靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)。如果要求多個(gè)溫度，首先從最低溫度開始。

　　⑥ 如果所有三個(gè)樣本都通過(guò)規(guī)定數(shù)據(jù)的參數(shù)測(cè)試，則再用表7中更高一擋電壓試驗(yàn)。記錄通過(guò)的最高電壓檔，并按表7將被測(cè)器件分類。

　　⑦ 如果有一個(gè)或多個(gè)樣本失效，重新用三個(gè)新的樣本，以降低一擋表7中電壓進(jìn)行試驗(yàn)。如果繼續(xù)有失效，再降低一擋，如果還有失效，則停止試驗(yàn)。

　　以上列舉的兩項(xiàng)為LED兼容性測(cè)試的一部分內(nèi)容。