從設計上延長手機電池壽命

       好像手機電池的壽命還不夠短，如果處理不好漏泄功率的話，頻繁的充電可能會成為向高級處理系統的升級的障礙。 
　　正常操作時，當某個IC設備

處于激活狀態（比如當某人正在使用手機打電話）時，它會產生動態功率。當該設備被關閉時，漏泄功率仍能將電池耗盡。在180、130、甚至90納米工藝中，漏泄功率只是動態功率的一小部分，這樣當電池繼續被消耗時，消耗速率極低。 
　　Zenasis Technologies的首席技術官兼董事會主席Jay Roy介紹說，以65和45納米工藝生產出的設備，漏泄功率相當大。 

　　比如，如果一部手機三天沒有充電而且仍能使用，假設每小時通話15分鐘，如果漏泄功率翻一倍的話，電話的使用壽命會降到兩天甚至更短。 

　　此外，如今手機設計中功率的高集中度導致設備自動發熱，再加上設備的互連，使得芯片中溫度變化顯著。而包裝技術也對降低這種變化無能為力，盡管他們能降低芯片的平均溫度。Gradient電子設計自動化公司創始人、總裁兼CEO Rajit Chandra解釋道。 

　　“溫度的變化會極大程度地影響設備性能的發揮，特別是在模擬電話中；同時電線中的電遷移也會由于溫度上升而增加，從而從根本上降低產品壽命。”他說。 

　　此外，由于越來越多地采用電池供電的便攜式電子系統，以及包裝成本的不斷增加，導致市場對那些在最低程度地消耗功率同時又能提供高性能的集成電路的需求迅猛增長。Magma設計實施業務部門的產品經理Arvind Narasimhan表示。 

　　這些問題給努力滿足功率預算的設計小組帶來了大麻煩，因為對于電子無線設備而言，通話時間、玩游戲和播放音樂的時間和待機時間都屬于由功率驅動的關鍵消費特性。專注于功率分析的公司Azuro CEO Paul Cunningham解釋道。 

　　電子設計自動化（EDA）軟件供應商目前在積極設法解決上述問題，這方面的佼佼者當屬Cadence、Apache和Sequence。參與這一市場的新軍以及其他公司還包括Magma、Clear Shape、Azuro、Gradient和ArchPro。