NI參加2012年第七屆國際微波及天線技術展覽會

　　美國國家儀器有限公司(National Instruments, 簡稱NI)于2012年11月5日至7日參加了在上海舉辦的第七屆國際微波及天線技術展覽會，并攜手AWR公司(NI全資子公司，專注于微波射頻設計與仿真)展示了一系列NI最新微波射頻測試解決方案，和從射頻設計到驗證的全工具鏈。　　

　　在此次展會中，來自國內外多家微波射頻廠商展示了微波行業相關產品，及創新技術，遍及微波應用的各個環節。

　　NI在展會上著重展示了NI在微波射頻領域的解決方案，展現了NI多年不斷在微波射頻領域的投入和針對用戶需求研發的成果。這其中包括：

• 40 GHz的矢量收發解決方案。實現信號調制發生，與接收解調。可用于微波通信，及微波雷達等應用領域。
• 微波射頻系統半實物仿真解決方案。通過NI LabVIEW軟件與AWR 的VSS軟件的聯合仿真實現“設計+驗證”的概念，在設計仿真前端引入物理儀器測量，實現從設計到驗證一體化，并可將數字算法在FPGA上實現。可用于微波射頻系統數字預失真(DPD)的仿真與驗證，以及雷達接收機的設計與驗證。
• 實時頻譜分析儀。可對特定頻段實施實時頻譜分析，并可靈活根據需求來實現頻率提取和記錄功能。

　　與此同時，NI還在現場展示了802.11ac等移動無線終端測試等應用方案，充分體現了NI PXI硬件平臺以及LabVIEW軟件的性能和優勢。NI PXI標準的模塊化測試系統平臺結合LabVIEW軟件及工具包，契合軟件無線思想，憑借其靈活、高性能以及可靠性，不僅可以享受到實驗室儀器級的性能還能擁有無可比擬的靈活性，以滿足不同應用需求。