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        NI參加2012年汽車測試及質(zhì)量監(jiān)控博覽會

        作者: 時間:2012-10-22 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 )于2012年9月18日至20日參加在上海光大會展中心舉辦的2012年及質(zhì)量監(jiān)控博覽會。在此次與質(zhì)量監(jiān)控博覽會上面,聯(lián)合多家業(yè)內(nèi)資深的合作伙伴集中展示了在汽車領(lǐng)域多項(xiàng)前端應(yīng)用和解決方案。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/137939.htm

          公司的產(chǎn)品幾乎被所有的汽車OEM與一級供應(yīng)商所采用。因?yàn)榫哂蓄I(lǐng)先的I/O、靈活的硬件、強(qiáng)大高效的平臺,用戶可以創(chuàng)建適合多種應(yīng)用的解決方案。目前,NI的產(chǎn)品涉及了快速控制原型、汽車終端測試、TEST Cell的測量與控制、硬件在環(huán)、車載測試與記錄等幾大領(lǐng)域。在此次博覽會上NI帶來了下列幾項(xiàng)產(chǎn)品的展示:

          · μs級電機(jī)高速仿真,為目前最熱門的新能源汽車的前期仿真和硬件在環(huán)應(yīng)用帶來突破性的進(jìn)展;

          · CAN、LIN、FlexRay總線的綜合測試應(yīng)用;

          · DIADem上的碰撞測試與分析

          · 以模塊化儀器PXI以及嵌入式平臺CompactRIO為核心的多項(xiàng)應(yīng)用方案

          與此同時,NI攜手幾家業(yè)界資深合作伙伴(北京恒潤科技、蘇州凌創(chuàng)電子、上海聚星儀器和上海其高電子)分別就ECU硬件在環(huán)、汽車綜合電子系統(tǒng)測試、車載數(shù)據(jù)記錄和汽車NVH測試等等提供了完整的解決方案。展會現(xiàn)場多家合作伙伴也提供了他們對于整車廠商和一級供應(yīng)商提供的成熟解決方案。

          除了產(chǎn)品展示之外,在展會首日應(yīng)組辦方邀請,NI資深行業(yè)工程師以“NI推動汽車行業(yè)關(guān)鍵應(yīng)用的發(fā)展”為題作了主題報告,深入分析了當(dāng)天幾個熱門領(lǐng)域話題,包括新能源汽車及電氣化、燃油經(jīng)濟(jì)性提升、安全性與新26262標(biāo)準(zhǔn)、整車或發(fā)動機(jī)臺架測試、及Telematics綜合測試等汽車電子的幾大發(fā)展趨勢,以及NI對應(yīng)提供的解決方案。同時NI的合作伙伴也就他們多年來在汽車行業(yè)的應(yīng)用作了深入介紹。

          相信通過此次博覽會,客戶一定可以就NI在汽車電子測試領(lǐng)域的理念和產(chǎn)品有一個較全面的了解。



        關(guān)鍵詞: NI 汽車測試 LabVIEW

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