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        羅德與施瓦茨的時頻分析藝術

        作者: 時間:2010-10-28 來源:電子產品世界 收藏

          2010年11月3至5日,在上海新國際博覽中心舉辦的第76屆中國電子展上,R&S公司將展示其全面領先的時域和頻域測試與測量解決方案。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/113973.htm

          作為世界頂級的測試儀器、系統(tǒng)及方案提供商,R&S公司將展示R&S公司第一臺實時數(shù)字示波器:R&S®RTO,它采用了很多創(chuàng)新設計,擁有極佳的信號保真度—業(yè)內最高的大于7位的動態(tài)有效位,極高的波形采集速度—高達每秒一百萬次的波形捕獲率,率先引入的數(shù)字觸發(fā)系統(tǒng),具有硬件加速的測量和分析功能,同時帶有直觀高效的用戶界面。

          高性價比通用示波器R&S®RTM,性能優(yōu)異,結構緊湊,是低速率模擬和數(shù)字電路測試和調試的理想工具。

          與示波器同時推出的RT-ZS有源探頭系列具有兩大創(chuàng)新設計:集成了微型按扭,可以預設功能控制示波器;集成探頭電壓表,可以精確測量直流電壓。所有這些創(chuàng)新功能都將給用戶帶來全新的真正快樂的工作體驗。

          創(chuàng)新的信號分析儀R&S®FSVR,集多功能信號分析和頻譜分析及實時頻譜分析于一體。它是擁有業(yè)界最高測量頻率的實時頻譜儀(30GHz),每秒250 000個頻譜處理能力,讓用戶能從新的視角觀察頻譜。頻譜瀑布圖,頻譜模板觸發(fā),全息頻譜等實時功能更使任何信號都能輕松顯現(xiàn)。R&S® FSVR讓用戶以更少的投資獲取更多的信息,更是用戶應對各種測試與測量任務的得力工具。

          此外,參觀者還將了解到R&S公司的“無需噪聲源的噪聲系數(shù)測量技術-R&S®ZVA-K30(R&S專利)”。該測量技術基于矢量網絡分析儀R&S®ZVA/ZVT平臺上,高達67GHz測量頻率,具有更高測量精度,更簡單的測量方法;而且單臺儀器上可同時測試16個被測件的噪聲系數(shù),S參數(shù)與噪聲系數(shù)同時測量更是能夠輕松實現(xiàn)。

          誠邀您親臨現(xiàn)場體驗。

          時間:2010年11月3日至5日 地點:上海新國際博覽中心 3號館 3C012



        關鍵詞: R&S 時頻分析

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