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        利用基于PXI Express的NI FlexRIO模塊,滿足自動化測試需求

        作者:美國國家儀器公司Ryan Verret 時間:2010-07-13 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          自從1997年基于FPGA的可重配置I/O(RIO)產(chǎn)品在Week圖形化系統(tǒng)設計會議上首次亮相以來,已發(fā)布了多種基于 RIO技術的設備,包括NI R系列、以及PXI Express RIO 中頻收發(fā)器。RIO技術不僅用于控制應用,強大的FPGA功能大大提高了測試吞吐量,使新的測試成為可能,從而增強了自動化測試系統(tǒng)。同時,現(xiàn)成可用的商業(yè)硬件平臺以及LabVIEW為FPGA編程帶來的簡化,也大大降低了系統(tǒng)開發(fā)難度和成本。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/110839.htm

          圖1:基于高性能FPGA可以實現(xiàn)高帶寬實時頻譜分析儀等強大測試儀器。

          自動化測試應用中的FPGA

          開放式的用戶可編程FPGA可以用于解決全新的應用挑戰(zhàn)。在FPGA測試技術的關鍵應用領域閉環(huán)測試系統(tǒng)中,測試系統(tǒng)必須向被測設備(DUT)提供實時反饋,來模擬真實世界的狀態(tài)變化,而這就需要使用具有硬件級響應速度的基于FPGA的設備。以RFID標簽測試為例,其測試系統(tǒng)必須模擬RFID讀卡器,以不超過25 μs的延遲與標簽進行協(xié)議交互。有些自動化測試系統(tǒng)要求極高的數(shù)據(jù)處理能力,這也是FPGA的全新應用領域。寬帶實時頻譜分析儀需要對采集到的數(shù)據(jù)進行連續(xù)傅立葉變換(FFT),如圖1所示,只有通過FPGA對信號進行協(xié)處理才能滿足這些用戶自定義分析需求的吞吐量。

          除了用于閉環(huán)實時測試系統(tǒng)的高速響應和增強測試系統(tǒng)的信號處理能力,通過FPGA還可以實現(xiàn)自定義的協(xié)議接口、自定義的觸發(fā)控制等功能,從而可以進一步提升現(xiàn)有自動化測試系統(tǒng)功能。

          表1:三種基于PXI Express的NI FPGA模塊參數(shù)


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        關鍵詞: NI CompactRIO FlexRIO

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