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        最新DDR 信號分析方法

        作者: 時間:2017-01-12 來源:網絡 收藏
        現在示波器上的DDR 物理層信號分析方案,都是針對JEDEC 規范的一致性
        測試。在這種方案中,分析軟件會按照JEDEC 規范分析DDR 信號的各種參數,
        并判斷測試結果Pass 或者Fail,最終生成一份報告。但是很多的研發工程師,并
        不想僅僅獲得一個Pass 或者Fail 的結果,而是想對信號做調試分析,但是傳統
        的串行信號分析軟件無法分析DDR 信號,為此,力科推出了新的DDR Debug
        toolkit。
        一,新的DDR 信號分析方法
        力科DDR Debug toolkit 提供了一種簡單易用的DDR 信號調試工具,它快速
        的對數據做讀寫分離,形成讀寫眼圖,對眼圖進行模板測試和參數測試,對抖動
        進行分解,定位問題的根源,對比較重要DDR 參數進行測量,像建立時間、保
        持時間、TDQSCK 等,靈活設置參數,對DDR 信號問題進行調試,可以支持
        DDR2/DDR3/DDR4/LPDDR2/LPDDR3 等。
        二,眼圖測量
        可以同時產生和顯示10 個眼圖,對5 路DDR 信號進行分析,查看分析眼間
        的Skew 和時間信息,可以選擇DQS 或者Clock 作為時間參考,自定眼圖模板,
        Teledyne Lecroy進行眼圖模板測試。
        三,測量多個眼圖參數:
        ? Eye Height
        ? Eye Width
        ? Eye Crossing
        ? Mask Hits
        ? Mask Out
        ? Eye Amplitude
        ? One Level
        ? Zero Level
        四,抖動測試
        像傳統的串行信號分析一樣,對DDR 信號的抖動進行測量分析,對抖動進行分
        解(Tj,Rj,Dj,DCD 等),從TIE Track、TIE Histogram、Bathbub Curve 觀察分析抖
        動,更加深入的了解抖動的分布和源頭。
        五,DDR 參數測量
        對比較關鍵的DDR 參數進行測量,可以同時測量12 個參數,包括Max、Min,
        Mean 等統計值。
        ? Bursts, transitions, Vref
        ? VH(ac), VH(dc), VL(ac), VL(dc)
        ? tDS, tDH, tIS, tIH
        ? tDQSQ, tDQSCK
        ? Slew Rise, Slew Fall



        關鍵詞: DDR信號分

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